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天瑞元素录井分析仪EDX5500H是一款基于20多年X荧光光谱仪研发经验打造的专业级岩屑元素分析设备。该仪器采用X射线荧光分析(XRF)技术,通过检测岩屑中化学元素的组合特征实现岩性识别与层位判断,广泛适用于各类钻井条件下的录井作业,满足现场测试、在线检测及地质勘察的高效需求。
本产品具备超低检出限、高稳定性与宽元素检出范围等核心优势,集成4096道数字多道处理器、超薄铍窗X射线管和FAST-SDD探测器,优化光路结构与软硬件设计,确保在复杂环境下仍能稳定运行。其独特的抗震性与封闭式定向散热系统,使仪器可在车载和实验室等多种场景中灵活部署,提升多元素同步分析效率。
✓ 超低检出限:真空环境结合高灵敏度半导体探测器,显著提升对岩心微量元素的检测能力。
✓ 宽元素检出范围:支持同时检测多种元素,满足录井过程中复杂成分分析需求。
✓ 高效快速分析:单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟,最快可达60秒完成分析。
✓ 独特抗震设计:高阻尼可动防震缓冲支脚与超稳真空控样结构,有效抵御现场振动干扰。
✓ 安全可靠防护:X射线屏蔽设计、高分子材料与安全联动装置,杜绝辐射外漏风险。
✓ 便携稳定兼顾:小巧外形、封闭式定向风冷散热系统,适用于车载移动与实验室固定使用。
1. X射线荧光分析技术用于岩屑录井
利用XRF技术分析岩屑中元素组合特征,精准识别岩性,并通过岩性序列判断地层层位,适用于各种钻井条件下的实时录井任务。
2. 快速多元素同步检测
仪器可同时分析多达40种元素,单样品分析时间最短为60秒,大幅提升现场数据获取效率,助力快速圈定油气边界。
3. 上照式光路与真空测试腔设计
上照式直射光路配合真空测试腔,有效防止粉尘污染探测器,保障长期运行稳定性与测试准确性。
4. 高性能核心组件集成
搭载Rh靶X射线管、大面积厚晶体FAST-SDD探测器与4096道数字多道处理器,提高计数率与激发效率,确保数据高重复性与可靠性。
5. 智能化操作与内置校正模块
配备智能测试软件与内置校正模块,简化操作流程,降低人为误差,提升现场自动化水平。
6. 强化环境适应性设计
整机通过高低温、高频振动、湿热等严苛环境测试认证,适应野外恶劣工况,保障连续稳定运行。
| 参数类别 | 技术指标 |
|---|---|
| 光路系统 | 上照式光路系统直射模式 |
| 探测器类型 | FAST-SDD探测器 |
| 数字多道处理器 | 4096道数字多道处理器 |
| X射线管 | 铍窗X射线管(Rh靶) |
| 高压电源 | 高压 |
| 散热系统 | 封闭式定向散热系统 |
| 防震设计 | 高阻尼可动防震缓冲支脚 |
| 成像配置 | 定制CCD高清摄像头 |
| 软件系统 | 智能测试软件,校正模块内置 |
| 样品受光面积 | 150mm² |
| 分析速度 | 最快60秒,单样品30多种元素测试1~4分钟 |
| 同时分析元素数量 | 最多40种元素 |
| 整套设备组成 | X荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵 |
适用领域:生物医学研究、临床诊断、制药工业、食品检测、环境监测等。
典型应用场景:岩心成份普查、现时分析、现场岩屑元素追踪、油气边界圈定、地质勘察多元素检测。
主机标准配置:
上照式光路系统直射模式
FAST-SDD探测器
数字多道处理器
高压
铍窗X射线管
智能测试软件
校正模块内置
封闭式定向散热系统
高阻尼可动防震缓冲支脚
定制CCD高清摄像头
整套设备包括:
X荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵
录井行业应用案例:
l 岩心成份普查:
仅需简单前处理,微量多种元素成分尽在掌握。
l 现时分析
能快速、现场追踪岩心数据,圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟;
l 现场分析
独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务;
仪器性能优势:
仪器外形小巧,简洁大方,可用于车载和实验室,使用方法简单,测试效率高;
测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染;
准直器大化设计使样品受激光斑达150mm²,保证测试信号的丰富性,提高测试准确度;
封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定,延长X射线管寿命;
分析样品速度快,快可达60S,并且可同时分析40种元素;
高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致,屏蔽现场震动所造成的影响;
大面积厚晶体FAST-SDD探测器,配上Rh靶X光管以及良好的散热性,有力地确保测试稳定;
X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏,让测试人员安全放心使用;
A:该仪器可同时分析最多40种元素。
A:分析样品最快可达60秒完成。
A:是的,其独特的抗震设计、超小真空腔和稳固样品控制结构使其能够应对各种现场环境的检测任务。
A:采用的是FAST-SDD探测器。
A:整套设备包括X荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵。
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