EDX 4500H X荧光光谱仪是一款基于XRF检测原理的高性能分析设备，专为快速、准确、无损地测定各类样品中的元素成分而设计。该仪器集成了先进的超薄窗X光管、FAST-SDD探测器与数字多道技术，具备优异的能量分辨率和高计数率，适用于从钠（Na）到铀（U）的广泛元素分析。
凭借智能真空系统和自动切换准直器与滤光片的设计，EDX 4500H在轻元素（如Si、P、S、Al、Mg）激发及高含量金属元素（如Cr、Ni、Mo）检测方面表现出色，显著提升测试效率与精度。其广泛应用于合金分析、全元素分析以及有害元素检测（RoHS、卤素），满足多行业对材料成分精准控制的需求。
✓ 智能真空系统：有效屏蔽空气干扰，显著增强对Si、P、S等轻元素的激发效果，扩展检测范围。
✓ FAST-SDD探测器：具备优良的能量线性、分辨率和峰背比，确保高精度与稳定性的谱图采集。
✓ 数字多道技术：计数率高达100000CPS，大幅提升测试速度，在合金检测中表现尤为突出。
✓ 自动化操作设计：自动切换准直器和滤光片，免去人工干预，提高测试一致性与工作效率。
✓ 高信噪比电子系统：结合自动稳谱装置，保障长时间运行下的数据稳定性与重复性。
✓ 多元样品适配性：支持粉末、固体、液体等多种样品状态，满足多样化检测需求。
1. 超薄窗X光管与低能激发技术
采用超薄窗X光管，结合低能X射线激发方式，显著提升对轻元素的激发效率，使Si、P等关键元素的检出限更低、灵敏度更高。
2. 数字多道分析与高速处理
集成数字多道技术，实现高达100000CPS的计数率，加快数据采集速度，缩短测量时间至30秒-200秒，特别适合高频次批量检测场景。
3. FAST-SDD探测器与优质谱图性能
探测器能量分辨率为145±5eV，具有良好的能量线性和较高的峰背比，确保复杂样品中重叠谱峰的有效分离与精确识别。
4. 智能真空与环境适应系统
内置智能抽真空系统，可动态调节真空环境，消除空气中氮、氧等因素对轻元素检测的干扰，大幅扩展可测元素范围。
5. 自动稳谱与光路优化设计
配备自动稳谱装置，保证仪器在不同环境条件下工作参数的一致性；光路增强系统进一步提升信号强度与检测灵敏度。
6. 内置摄像头与可视化操作界面
仪器内置高清晰摄像头，配合90mm×70mm液晶屏，实时显示管压、管流、真空度等关键参数，操作直观便捷。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | EDX 4500H |
| 产品名称 | X荧光光谱仪 |
| 测量元素范围 | 从钠（Na）到铀（U） |
| 元素含量分析范围 | ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） |
| 同时分析元素 | 一次性可测几十种元素 |
| 测量时间 | 30秒-200秒 |
| 探测器能量分辨率为 | 145±5eV |
| 管压 | 5KV-50KV |
| 管流 | 50μA-1000μA |
| 测量对象状态 | 粉末、固体、液体 |
| 输入电压 | AC 110V/220V |
| 环境温度 | 15℃-30℃ |
| 环境湿度 | 35%-70% |
| 样品腔体积 | 320mm×100mm |
| 外形尺寸 | 660mm×510mm×350mm |
| 重量 | 65Kg |
适用领域：合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）。
标准配置：
超薄窗X光管
FAST-SDD探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
A：该仪器的测量元素范围是从钠（Na）到铀（U），涵盖轻元素和重金属元素。
A：测量时间为30秒-200秒，可根据样品类型和精度要求进行调整。
A：是的，EDX 4500H可检测粉末、固体和液体三种状态的样品。
A：仪器配备智能真空系统和超薄窗X光管，对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果。
A：探测器能量分辨率为145±5eV，确保高精度的谱图分析能力。
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