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彼爱姆9J光切法显微镜(普通型)
彼爱姆9J光切法显微镜(普通型)
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市场价: 请询价
品 牌: 上海彼爱姆
型 号: 9J
摄影装置放大倍数:约6X
测量不平度范围:0.001~0.08mm
发货周期:现货 发货时间说明>
  • 产品信息
产品介绍

用途
9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。

对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 

光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。

是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。


技术参数


1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

3、不平宽度: 用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台:0.01~13mm

4、仪器重量: 约23kg

5、外形尺寸: 约180×290×470mm




测量范围不平度平均高度值 (um)表面光洁度级别所需物镜总放大倍数

物镜组件

工作距离 (mm)

视场 (mm)

>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3



产品参数
摄影装置放大倍数
约6X
测量不平度范围
0.001~0.08mm
型号
9J
售后服务
下单流程
信息确认
签订合同
支付货款
仓库发货
到货签收
安装指导
验收交付
开具发票

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2、其次确认产品旳使用须知,买卖双方信息相互,确认收货和收票地址;

3、科研仪器设备属于精密仪器,非产品质量问题本公司不做退换货处理,购买时请再三确认;

4、小型仪器退换货要求确保仪器未拆箱、未通电、未使用、附件包装完好无损不影响二次销售,联系客服人员处理退换货事宜;

5、退换货要求产品外包装套纸箱,禁止无包装发货,拒收到付;

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