上海光学 15JE 数显测量显微镜

产品概述

数显测量显微镜15JE 是一款集测量与观察于一体的多功能光学仪器，结构简单、操作便捷，适用于多种精密测量任务。该设备具备直角坐标长度测定、角度测量及显微观察三大核心功能，广泛应用于机械制造、电子工业、计量检测、印刷制版及材料分析等领域。

本产品支持总放大倍数25X至100X，配备高精度读数装置，可直接显示测量结果，提升工作效率与准确性。其测量工作台具备大范围X/Y轴移动能力，并支持360°旋转刻度盘与游标读数，满足复杂几何形状零件的多维度检测需求。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 直角坐标长度测量功能
可在X、Y轴方向精确测定孔径、基面距离、键槽宽度等尺寸，X轴测量范围50.00mm，Y轴13.00mm，结合十字尺目镜与数显系统，快速获取测量数据。

2. 角度测量与旋转定位功能
通过可旋转测量台与360º刻度盘进行角度测定，适用于钻孔模板、刻度盘、量规等工件的角度校验，最小游标读数可达6′，保证高分辨力。

3. 显微观察与比较检测功能
作为观察显微镜使用时，可用于检查工作表面光洁度、鉴定冶金矿石标本、检验纺织纤维、印刷照相制版质量等，提升质检效率。

4. 数字化读数与误差控制
仪器示值误差为±（5+L/15）微米（L—被测件长度(mm)），包含测量与系统误差，在环境温度(20 ± 3) ºC条件下保持稳定性能。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：机械加工、电子元件检测、计量校准、印刷制版、纺织纤维检验、冶金矿石鉴定、生物医学样本观察、科研教学等。

产品细节/结构说明

光学系统配置：
采用10X带十字尺目镜，搭配2.5X/0.08和10X/0.25两组物镜，形成25X与100X两种放大倍率组合，分别对应58.84mm与7.81mm的工作距离，以及5.60mm与1.40mm的视场直径，满足不同景深与视野需求。

测量工作台特性：
X轴移动范围50.00mm，Y轴13.00mm，测微器分度值0.01mm，支持高精度线性位移测量；测量台可无限旋转，配备0º～360º刻度盘，分度值1º，游标读数示值6′，实现精细角度定位。

环境适应性要求：
为确保测量精度，应在环境温度(20 ± 3) ºC条件下使用，仪器示值误差控制在±（5+L/15）微米范围内（L为被测件长度，单位mm）。

外形与安装空间：
仪器外形尺寸为325 × 262 × 220 （mm），测量台直径120mm，测量台与物镜间最大距离80mm，便于放置各类样品；整机重量10.5kg，包装尺寸375×285×250（mm），适合实验室固定或运输存储。