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SGW® X-4B 是一款专业型熔点测定仪，适用于实验室对物质熔点的精确测量。该仪器支持多种测量方法，具备高精度温度控制与清晰的观察系统，广泛应用于化学、制药、材料等领域。
本产品采用目视测量方式，配备双目体视显微镜和可变倍放大系统（40×-100×），确保样品变化过程清晰可见。同时，仪器集成防风罩设计，有效减少环境气流对测试结果的干扰，提升测量稳定性与准确性。
✓ 多种测量模式：支持毛细管法和热台法（载玻片-盖玻片法），适配不同样品需求。
✓ 高精度温控：测量范围为室温~320 ℃，最小示值达0.1℃，重复性优异。
✓ 清晰观察系统：搭载40×-100×变倍双目体视显微镜，便于实时观测样品熔融状态。
✓ 环境防护设计：配有防风罩，显著降低外界气流对测温精度的影响。
1. 支持双测量方法
既可使用毛细管法进行常规熔点测定，也可采用载玻片-盖玻片法（热台法）实现更精确的观察与控温，满足多样化的实验需求。
2. 高精度温度控制
温度测量范围为室温~320 ℃，最小分辨率为0.1℃，在≤200℃时重复性可达±1℃，＞200℃时为±2℃，确保数据可靠稳定。
3. 显微观察系统
配备双目体视显微镜，放大倍数可在40×至100×之间连续调节，提供清晰的样品形态变化图像，便于准确判断熔点时刻。
4. 抗干扰结构设计
内置防风罩有效隔绝外部空气流动，避免温度波动对测试结果造成影响，提高实验的一致性和重现性。
| 仪器型号 | SGW® X-4B |
| 测量范围 | 室温~320 ℃ |
| 测量方法 | 目视 |
| 测量模式 | 毛细管法、热台法 |
| 最小示值 | 0.1℃ |
| 重复性 | ≤200℃ ±1℃ ＞200℃ ±2℃ |
| 观察方式 | 双目体视显微镜 |
| 放大镜倍数 | 40×-100×变倍 |
| 电源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
| 仪器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
| 仪器净重 | 4.5kg |
适用领域：化学分析、药物研发、质量控制、材料科学、教学实验等需要精确测定物质熔点的场合。
仪器采用显微镜观察方法，既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
带有防风罩，减少了环境对测试结果的影响。
A：支持毛细管法和热台法（即载玻片-盖玻片法），用户可根据样品特性选择合适的方法。
A：测量范围为室温~320 ℃，最小示值为0.1℃。
A：在≤200℃时重复性为±1℃，＞200℃时为±2℃。
A：采用双目体视显微镜，放大倍数可在40×至100×之间连续调节。
A：是的，仪器配备防风罩，可有效减少环境气流对测试结果的影响。
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