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EDX8000L型仪器是一款专为古文物无损检测设计的多功能X荧光分析设备，广泛应用于考古研究、文物鉴定与文化遗产保护领域。该仪器采用标准陶瓷片样品进行标定，结合中国古陶瓷数据库，能够实现对古陶瓷胎体和釉面中多种化学成分的一次性同步分析，从而精准完成断代与断源判断。
凭借超大型抽真空样品腔设计，EDX8000L可适应不同尺寸与形状的文物样本检测，不仅适用于各类古陶瓷，还可用于青铜器、贵金属及其金属镀层厚度的测量。其具备宽广的元素测量范围、高精度分析能力以及简便的操作系统，是文物保护与科研机构理想的科学检测工具。
✓ 多元素同步分析：一次性可分析30种以上元素，涵盖Na₂O、MgO、Al₂O₃、CaO、Fe₂O₃、K₂O、MnO、SiO₂、TiO₂及As、Cr、Cu、Co、Ni、Pb、V、Zn、Zr、Ba等多种成分。
✓ 宽泛测量能力：测量元素范围从钠（Na）至铀（U），元素含量分析范围达1ppm—99.99%，支持粉末、固体、液体等多种样品状态。
✓ 高精度镀层测厚：镀层厚度测量薄至0.01微米，满足精细文物修复与材质分析需求。
✓ 超大样品腔设计：配备超大型抽真空样品腔（590×550×600mm），兼容各种大型或异形文物样本。
✓ 一机多用：除古陶瓷外，还可测试青铜器（Cu、Sn、Pb、Zn等）和贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）的化学成分与镀层厚度。
1. 精准断代断源分析
利用由中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所提供的标准陶瓷片作为标定基准，EDX8000L能准确测定古陶瓷胎釉中的关键氧化物和微量元素，结合权威数据库实现科学断代与产地溯源。
2. 全自动光学系统配置
配备可自动切换的准直器和滤光片、光路增强系统及面光源，提升信号采集效率与测量稳定性，确保复杂基体样品的高重复性分析结果。
3. 智能化分析软件平台
搭载智能全元素分析软件，集成多变量非线性回归程序与相互独立的基体效应校正模型，操作简便且分析结果可靠。
4. 内置高清成像系统
内置高清晰摄像头，便于实时观察样品表面特征，精确定位测试区域，保障无损检测的准确性。
5. 多重安全保障机制
采用三重安全保护模式，在高压控制、辐射防护与操作联锁方面提供全面保障，符合实验室安全规范。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | EDX8000L |
| 测量元素范围 | 从钠（Na）至铀（U） |
| 元素含量分析范围 | 1ppm—99.99% |
| 同时分析元素 | 同时可以分析30种以上元素 |
| 测量镀层 | 镀层厚度测量薄至0.01微米 |
| 测量对象状态 | 粉末、固体、液体 |
| 测量时间 | 30s—200s |
| 管压 | 5KV—50KV |
| 管流 | 50uA—1000uA |
| 输入电压 | AC 110V/220V |
| 消耗功率 | 200W |
| 环境温度 | 15-26℃ |
| 相对湿度 | ≤70% |
| 外观尺寸 | 800×710×1360 mm |
| 样品腔尺寸 | 590×550×600mm |
| 重量 | 280kg |
适用领域：古陶瓷、古青铜器、古首饰、镀层测厚。
标准配置：
超薄窗大面积的原装进口Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg
A：EDX8000L适用于古陶瓷、古青铜器、古首饰等文物的化学成分分析，同时支持镀层厚度测量。
A：测量元素范围从钠（Na）至铀（U）。
A：可以测量金属镀层厚度，最小可测厚度为0.01微米。
A：同时可以分析30种以上元素。
A：包括Fast SDD探测器、数字多道系统、自动切换准直器和滤光片、光路增强系统、内置高清摄像头、智能分析软件、X光管及三重安全保护模式等。
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