上海彼爱姆 BM-54XBDC 电脑工业测量显微镜

产品概述

BM-54XBD C 电脑工业检测显微镜是一款专为高精度工业检测设计的高级显微设备，广泛应用于半导体、硅片制造、电子信息、冶金等行业。该显微镜采用先进的光学系统与大行程载物台结构，支持明暗场观察、落射偏光及DIC微分干涉成像，适用于对硅片、电路基板、FPD显示面板和精密模具等材料进行高质量检测分析。

本产品配备平场无限远长工作距离物镜与超大视野目镜，成像清晰、对比度优异。结合可调亮度的卤素光源与Kohler照明系统，确保在各种观察模式下均能获得均匀明亮的图像。同时支持连接计算机成像系统，实现数字图像采集与处理，满足现代工业实验室对高效、精准检测的需求。

功能特点详解

1. UIS高分辨率无限远光学系统
采用UIS校正技术的平场无限远物镜，具备长工作距离与高数值孔径，有效消除像差，在5X至40X范围内均实现锐利、平坦的成像效果，特别适合厚样本或带封装结构的工业样品观察。

2. 多模式兼容观察功能
物镜系统与明暗场、偏光、DIC等观察方法完全兼容。通过五孔转换器可快速切换物镜，并可插入DIC微分干涉装置，增强透明或低对比度样品的立体感与边缘细节表现力。

3. 超大视野目镜配置
标配WF10X(Φ25mm)超宽视场平场目镜，提供更广阔的观察区域；另配有带0.1mm十字分划板的10X目镜，便于测量与定位操作，提升检测效率。

4. 精密调焦与照明系统
粗微动同轴调焦机构配合卤轮卤条传动，运行平稳精确，微动格值达0.002mm；落射照明系统配备孔径与视场光栏，使用12V100W卤素灯，亮度连续可调，适应不同反光特性的样品。

5. 扩展性数字成像支持
集成CCD摄像头接口与外置式A/D视频采集卡，通过USB连接外部计算机，实现实时图像捕捉与存储，满足报告生成、远程会诊与数据归档需求。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业、精密模具制造、FPD显示面板检测、科研机构与高等院校的材料分析等。

产品细节/结构说明

观察头：30°铰链式三目头，符合人体工学设计，便于长时间观察。

转换器：带DIC插孔的明暗场五孔转换器，支持快速物镜切换与DIC装置加装。

瞳距调节：50-75 mm，适应不同用户眼部间距。

双层移动平台：平台尺寸：350×310 mm；移动范围：250×250 mm，支持大尺寸样品精确定位。

滤色片配置：插板式滤色片（绿、蓝、中性），可根据样品特性选择合适波段增强成像对比度。

调焦机构：粗微动同轴调焦，采用卤轮卤条传动机构，运行平稳；微动格值0.002mm，确保精细聚焦。

偏光装置：检偏镜可360°旋转，起偏镜与检偏镜均可移出光路，灵活适应多种偏振观察需求。

检测工具：标配0.01 mm测微尺，用于长度测量与标定。

光源系统：落射照明，配备孔径光栏和视场光栏，使用12V100W卤素灯，输入电压AC85V-230V，亮度可调。

计算机成像系统：包含CCD摄像头、CCD适配镜、外置式图像视频采集卡(A/D)及USB接口，电脑需用户自行购买。