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BM-KLX颗粒图像检测仪是一款集反射与透射照明于一体的多功能显微分析设备，适用于金相、矿相、晶体及微电子等领域的试验与研究。仪器配备偏光装置和135摄影装置，支持多种观察模式，包括明场观察和偏光观察，满足不同样品的成像需求。
该仪器采用新颖造型设计，性能稳定，操作便捷可靠。结合高精度光学组件与数字成像系统，可实现从基础观察到几何测量分析的全面功能，广泛应用于工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门。
✓ 多模式照明系统：支持反射光（落射）与透射光双照明，可进行明场与偏光观察，适应多样样品类型。
✓ 高精度光学配置：配备平场目镜与195平场金相物镜，确保视场平坦、成像清晰，提升观测准确性。
✓ 完整测量分析能力：集成500万像素CMOS摄像机与几何测量分析软件，支持点、线、圆、弧、直线度、圆度、面积等精确测量。
✓ 灵活偏光装置：检偏镜可360°旋转，起偏镜与检偏镜均可移出光路，便于多模式切换与定量分析。
✓ 扩展性强：支持MCL-Z适配镜连接数字成像系统，用户自配电脑即可实现图像采集与处理。
1. 反射与透射双照明系统
仪器同时具备落射照明（反射光）和透射照明功能，可在不同光照条件下对金属、矿物、晶体等不透明或透明样品进行明场观察，增强对比度与细节呈现。
2. 明场与偏光观察兼容
在反射光下支持明场与偏光观察，配合可360°转动的检偏镜以及可移出光路的起偏镜，适用于各向异性材料的结构分析。
3. 高倍率组合与清晰成像
通过平场目镜（10X、16X）与195平场金相物镜（4X–40X）的组合，配合1.25倍镜筒系数，总放大倍数可达50X–800X，成像清晰无畸变。
4. 数字化图像采集与分析
搭载500万像素CMOS摄像机与专用几何测量分析软件，可对图像中的点、线、圆、弧、直线度、圆度、面积等参数进行自动测量，提升实验数据处理效率。
5. 稳定机械结构与精准调焦
双层移动载物台（140mm×140mm），移动范围75mm×40mm；同轴粗微动调焦装置行程30mm，带限位与锁紧功能，确保聚焦稳定可靠。
6. 模块化光源与滤色系统
落射与透射照明均采用AC85V-230V、6V/20W卤素灯，亮度连续可调；配备绿色、蓝色、黄色插板式滤色片，优化成像反差与色彩表现。
| 类别 | 放大倍数 | 视场直径 |
|---|---|---|
| 平场目镜 | 10X | Φ18mm |
| 16X | Φ11mm | |
| 10X(0.1mm测微尺) | Φ18mm（选购） |
| 类别 | 放大倍率 | 数值孔径 | 工作距离 |
|---|---|---|---|
| 195平场金相物镜 | 4X | 0.1 | 25mm |
| 10X | 0.25 | 11mm | |
| 20X | 0.4 | 9mm | |
| 40X | 0.6 | 3.8mm |
| 物镜 | 镜筒系数 | 总放大倍数 | |
|---|---|---|---|
| 10X目镜 | 16X目镜 | ||
| 4X | 1.25 | 50X | 80X |
| 10X | 125X | 200X | |
| 20X | 250X | 400X | |
| 40X | 500X | 800X | |
载物台：双层移动平台，平台尺寸：140mm×140mm，移动范围：75mm×40mm
滤色片：插板式滤色片：绿色、蓝色、黄色
调焦装置：30mm粗微动同轴调焦带限位、锁紧装置
聚光镜：N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光阑及滤色片
光源：落射照明，卤素灯AC85V-230V，6V/20W，亮度可调；透射照明，卤素灯AC85V-230V，6V/20W，亮度可调
偏光装置：检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
计算机成像系统：数字CMOS摄像机，500万像素，带几何测量分析软件；MCL-Z 适配镜；电脑自购
适用领域：生物医学研究、临床诊断、制药工业、食品检测、环境监测等。
显微镜总放大倍率计算公式：物镜倍率×镜筒系统倍率×目镜倍率
配置清单：
数字CMOS摄像机（500万像素）
MCL-Z 适配镜
几何测量分析软件
电脑需用户自行购买
A：该仪器支持反射光下的明场和偏光观察，以及透射光下的明场观察。
A：总放大倍数 = 物镜倍率 × 镜筒系统倍率 × 目镜倍率，其中镜筒系统倍率为1.25倍。
A：是的，仪器配备500万像素数字CMOS摄像机和几何测量分析软件，可对点、线、圆、弧、直线度、圆度、面积等进行测量。
A：载物台为双层移动平台，平台尺寸为140mm×140mm，移动范围为75mm×40mm。
A：落射和透射照明均采用AC85V-230V、6V/20W卤素灯，亮度可调。
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