WKL-708颗粒图像分析仪是一种将传统显微测量方法与现代图像技术相结合的精密仪器，适用于颗粒形貌分析和粒径测量。该系统由光学显微镜、数字CCD摄像机及专用颗粒图像处理分析软件组成，通过高分辨率成像与智能图像处理技术，实现对颗粒的直观、准确、宽范围测量。
系统支持多种图像处理功能，具备强大的几何参数测量能力，并可依据颗粒粒径、面积、形状等参数生成线性或非线性分布图，广泛应用于材料科学、化工、制药、环境监测等领域。
✓ 高精度成像：配备500万像素数字CCD摄像机，最大分辨率可达0.1微米/像素，确保细节清晰捕捉。
✓ 宽测量范围：测量范围为0.1～3000微米，满足多种颗粒尺寸分析需求。
✓ 快速自动分割：自动分割速度≤1秒，显著提升分析效率。
✓ 多参数统计分析：支持圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数测量，并可绘制多类分布图。
✓ 灵活数据存储与连接：内置一体机配置（128G固态硬盘，15寸显示器），支持USB、网线、无线网多种通信接口。
1. 多种图像处理方法
支持影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度与亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种图像处理功能，提升图像清晰度与分析准确性。
2. 几何参数全面测量
可对颗粒进行圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种基本几何参数的精确测量，满足复杂形貌分析需求。
3. 分布图智能绘制
可根据颗粒粒径、面积、形状等参数，以线性或非线性方式自动生成粒径分布图，便于数据可视化与结果解读。
4. 高效图像传输与处理
通过专用数字摄像机将显微图像实时传输至计算机，结合专用软件完成快速分析，总放大倍数可达8000倍。
| 仪器型号 | WKL-708 |
|---|---|
| 测量范围 | 0.1～3000（微米） |
| 总放大倍数 | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重复性 | 误差≤±1％ |
| 自动分割速度 | ≤1秒 |
| 数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
| 数据储存 | 一体机（128G固态硬盘，15寸显示器） |
| 通信接口 | USB/网线/无线网 |
| 操作系统 | Windows 98/XP/7/8/10系统均可 |
| 电源 | AC220V ±10％ 200W |
| 仪器尺寸 | 625mm×420mm×435mm |
| 仪器净重 | 25kg |
适用领域：材料科学、化工、制药、生物医学、环境监测、食品工业、地质研究等需要颗粒形貌与粒径分析的行业。
本系统由以下核心组件构成：
• 光学显微镜
• 数字CCD摄像机（500万像素）
• 颗粒图像处理分析软件
• 一体机终端（含128G固态硬盘、15寸显示器）
操作流程：通过数字摄像机采集显微图像，传输至电脑端专用软件进行图像分析处理，支持自动分割、参数测量与分布图绘制，全过程高效、直观、可追溯。
A：测量范围为0.1～3000（微米）。
A：自动分割速度≤1秒。
A：支持Windows 98/XP/7/8/10系统均可。
A：误差≤±1％。
A：是的，配备一体机，包含128G固态硬盘和15寸显示器。
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