WKL-702颗粒图像分析仪是一种结合传统显微测量方法与现代图像技术的颗粒分析仪器，适用于颗粒形貌分析和粒径测量。该系统由光学显微镜、数字CCD摄像机及专用颗粒图像处理分析软件组成，通过高精度成像与智能算法实现对颗粒的全面表征。
系统支持多种图像处理功能，包括影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度与亮度调节、颗粒定位与自动分割等，具备直观、形象、准确以及宽广测量范围的优势。可广泛应用于材料科学、化工、制药、环境监测等领域，满足科研与工业检测对颗粒形态与分布的高要求分析需求。
✓ 高精度成像系统：配备500万像素数字CCD摄像机，最大分辨率可达0.1微米/像素，确保细微结构清晰呈现。
✓ 宽范围测量能力：测量范围为0.1～3000微米，覆盖纳米至毫米级颗粒，适用性广泛。
✓ 快速智能分析：自动分割速度≤1秒，大幅提升数据处理效率，实现实时快速分析。
✓ 多参数综合测量：支持圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数测量，全面评估颗粒形态。
✓ 灵活统计图表输出：可根据颗粒粒径的面积、形状等参数，以线性或非线性方式绘制分布图，便于数据分析与报告生成。
1. 多种图像处理方法
系统集成影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度与亮度调节、颗粒定位及自动分割等数十种图像处理功能，提升图像质量与识别准确性，适应复杂样品场景。
2. 几何参数全面测量
可对单个颗粒进行圆度、曲线、周长、面积、直径等多种几何参数的精确测量，为颗粒形态学研究提供可靠数据支持。
3. 智能分布图绘制功能
支持按颗粒粒径、面积、形状等多类参数，采用线性或非线性统计方式自动生成粒径分布图，直观展示样品特征。
4. 高效数据传输与兼容性
通过USB接口实现高速通信，兼容Windows 98/XP/7/8/10操作系统，确保在多种实验环境中稳定运行。
| 仪器型号 | WKL-702 |
|---|---|
| 测量范围 | 0.1～3000（微米） |
| 总放大倍数 | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重复性 | 误差≤±1％ |
| 自动分割速度 | ≤1秒 |
| 数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
| 数据储存 | 电脑另配 |
| 通信接口 | USB |
| 操作系统 | Windows 98/XP/7/8/10系统均可 |
| 电源 | AC220V ±10％ 200W |
| 仪器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
| 仪器净重 | 15kg |
适用领域：材料科学、化学工程、生物医学、制药工业、环境监测、地质研究、食品检测等需要颗粒形貌与粒径分布分析的科研与生产领域。
本系统由以下三大部分构成：
• 光学显微镜
• 数字CCD摄像机（500万像素）
• 颗粒图像处理分析软件
工作流程：通过专用数字摄像机采集显微图像，将图像实时传输至计算机，利用专用软件进行图像增强、颗粒定位、自动分割及几何参数计算，并生成粒径分布图表。
软件功能包含：
• 影像增强
• 图像叠加
• 局部提取
• 定倍放大
• 对比度与亮度调节
• 颗粒定位
• 自动分割
• 圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种基本测量参数
A：测量范围为0.1～3000（微米）。
A：自动分割速度≤1秒。
A：配备500万像素数字摄像机(CCD)。
A：支持Windows 98/XP/7/8/10系统均可运行。
A：总放大倍数为8000倍。
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