WKL-722颗粒图像分析系统是一款集光学显微镜、CCD摄像机、触摸式电脑与专用图像处理软件于一体的智能化检测设备。该系统将传统显微测量技术与现代数字图像处理相结合，实现对颗粒物尤其是粉尘的高精度、宽范围分析，广泛适用于科研、工业检测及环境监测等领域。
系统配备先进的500万像素数字摄像机，可实时采集高清图像，并通过专用颗粒图像处理分析软件进行自动化处理。具备影像增强、图像叠加、局部提取、对比度调节、自动分割等多种图像处理功能，支持对颗粒粒径大小、形状、周长、面积及分布均匀性等参数进行全面计算分析，结果直观准确，操作简便高效。
✓ 高精度成像：搭载500万像素CCD摄像机，最大分辨率可达0.1微米/像素，确保颗粒细节清晰呈现。
✓ 宽范围测量：测量范围覆盖0.1～3000微米，满足多种颗粒分析需求。
✓ 智能图像处理：支持自动分割、影像增强、亮度调节等功能，有效解决重叠颗粒识别难题。
✓ 标准化输出：完全按照国家标准划分粒径区域（≤2um、2um～5um、5um～10um、＞10um），一键生成检测报告。
✓ 操作便捷：触摸式电脑控制，界面友好，分析过程快速、准确、重复性高（误差≤±1％）。
1. 多种图像处理方法
系统集成影像增强、图像叠加、局部提取、对比度与亮度调节、自动分割等数十种图像处理功能，显著提升图像清晰度与分析准确性，尤其适用于复杂背景或密集颗粒场景。
2. 全面颗粒参数分析
可直接计算粉尘颗粒的粒径、形状、周长、面积及分布均匀性等多项参数，提供全面的数据支持，助力科研与质量控制。
3. 国家标准兼容分级
系统内置国家标准粒径分布四区划分模式：≤2um、2um～5um、5um～10um、＞10um，同时支持用户自定义分级策略，灵活适配不同检测需求。
4. 先进图像分割技术
采用先进的图像分割算法，能够有效分离重叠颗粒，在保持原始形态的基础上实现精准识别，大幅提升分散度测定的可靠性。
| 仪器型号 | WKL-722 |
|---|---|
| 测量范围 | 0.1～3000（微米） |
| 总放大倍数 | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重复性 | 误差≤±1％ |
| 数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
| 数据储存 | 电脑另配 |
| 通信接口 | USB |
| 操作系统 | Windows 98/XP/7/8/10系统均可 |
| 电源 | AC220V ±10％ 200W |
| 仪器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
| 仪器净重 | 15kg |
适用领域：环境监测、职业卫生检测、工业粉尘分析、材料科学、生物医学研究、制药生产、食品加工等领域中的颗粒分散度测定与形态分析。
本系统由光学显微镜、CCD摄像机、触摸式电脑和颗粒图像处理分析软件四部分组成。
图像通过专用数字摄像机传输至电脑，经专用软件进行分析处理。
支持多种图像处理方式，包括影像增强、图像叠加、局部提取、对比度与亮度调节、自动分割等。
可按国家标准将粒径分布划分为四个区域：≤2um、2um～5um、5um～10um、＞10um，也可根据用户需求自定义分级。
测量结果可直接输出为检测报告，便于存档与共享。
A：测量范围为0.1～3000（微米）。
A：重复性误差≤±1％。
A：配备500万像素数字摄像机。
A：是的，系统完全按照国家标准将粒径分布定义为四个区域：≤2um、2um～5um、5um～10um、＞10um。
A：支持Windows 98/XP/7/8/10系统均可运行。
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