上海光谱紫外可见分光光度计SP-756PC 是一款高性能、智能化的分析仪器，专为实验室常规检测与科研应用设计。该仪器采用先进的单光束自准式光路系统，结合1200line/mm高性能光栅，确保高分辨率和优异的光学性能，适用于紫外到近红外波段的精确测量。
配备128×64图形液晶显示器，操作界面清晰直观，支持自动波长设置与系统校正功能，提升测试效率与准确性。内置WIN-SCAN 5.0版软件，可实现多种分析模式，包括光度分析、定量分析、动力学扫描及导数光谱分析，满足多样化的实验需求。
✓ 高精度光学系统：采用单光束自准式光路与1200line/mm高性能光栅，保障波长准确度±0.5nm，重复性达0.2nm。
✓ 宽波长范围：覆盖190-1100nm，支持紫外至近红外区域的全面光谱分析。
✓ 多功能软件支持：搭载WIN-SCAN 5.0版操作软件，支持光度分析、定量分析、时间扫描、多波长及导数光谱分析。
✓ 稳定可靠性能：基线平直度±0.002A，稳定性±0.002A/小时，噪声低至±0.002A，确保长时间测量的可靠性。
✓ 标准接口配置齐全：配备RS-232C接口和模拟输出接口，便于数据传输与外部设备连接。
1. 自动波长设置与系统校正：仪器支持自动波长设定，并具备系统自动校正功能，确保每次测量的波长准确度达到±0.5nm，减少人为误差，提高实验一致性。
2. 宽范围光度显示能力：光度显示范围涵盖0%T to 125.0%T，吸光度范围-0.097 to 3A，浓度可显示至9999C（或0-9999F），适应多种样品浓度测定需求。
3. 多模式分析功能：通过配套软件可实现光度分析（T.A.C测定）、标准曲线法定量分析、动力学时间扫描、光谱快速扫描以及导数光谱分析，拓展应用深度。
4. 高抗干扰设计：杂散光≤0.1%T@220nm and 340nm，光谱带宽2nm，有效降低背景干扰，提升低透射率样品的检测灵敏度。
5. 人性化显示与操作：128×64图形液晶屏实时显示测量参数与光谱图，配合简洁菜单结构，操作便捷，适合各类用户使用。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光学系统 | 单光束自准式光路，1200line/mm高性能光栅 |
| 显示系统 | 128×64图形液晶显示器 |
| 波长范围 | 190-1100nm |
| 波长设置方式 | 自动 |
| 波长准确度 | ±0.5nm(系统自动校正) |
| 波长重复性 | 0.2nm |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 杂散光 | ≤0.1%T@220nm and340nm |
| 光度显示范围 | 0%T to 125.0%T,-0.097 to 3A, 0C to 9999C(0-9999F) |
| 光度准确度 | ±0.3%T |
| 光度重复性 | 0.15%T |
| 稳定性 | ±0.002A/小时 |
| 噪声 | ±0.002A |
| 基线平直度 | ±0.002A |
| 数据输出接口 | 模拟接口， RS-232C接口 |
| 电源要求 | 220伏,±10%, 50赫,±10% |
| 外型尺寸 | 475 ´420´180 |
| 仪器重量 | 11kg |
为保证仪器长期稳定运行，请避免在强振动、高温高湿或强电磁干扰环境中使用；定期清洁样品室和比色皿，防止污染物影响测量结果；使用后及时关闭电源并覆盖防尘罩；建议每半年进行一次波长与光度校验以维持精度。
A：波长范围为190-1100nm。
A：支持，波长设置方式为自动，并具备系统自动校正功能。
A：包括操作说明书、10mm比色皿架、4只玻璃比色皿、2只石英比色皿、操作软件光盘、电源连接线、RS-232C通讯连接线和防尘罩各一件。
A：光度准确度为±0.3%T。
A：可实现光度分析（T.A.C测定）、定量分析（标准曲线法）、动力学分析（时间扫描）、光谱扫描、多波长分析和导数光谱分析。
1、首先客户需要确认产品品牌、产品型号、产品货号、产品规格、参数、货期等；
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