上海光谱推出的紫外可见分光光度计SP-756P（基础型）是一款高性能、智能化的分析仪器，专为实验室常规检测与科研应用设计。该仪器采用先进的光学系统和现代化操作界面，具备高精度、高稳定性和良好的人机交互体验。
设备搭载比例监视双光束光学系统与1200line/mm高性能光栅，确保优异的光谱性能。配备8寸彩色触控屏和Win8操作界面，操作直观便捷。支持多种分析模式，适用于广泛的波长范围和复杂实验需求，是化学、生物、制药等领域理想的检测工具。
✓ 高精度双光束光学系统：采用比例监视双光束设计，配合1200line/mm高性能光栅，显著提升测量准确度与稳定性。
✓ 智能化触控操作：内置Win8操作界面，搭配8寸彩色触控屏，实现流畅的人机交互与便捷控制。
✓ 宽波长覆盖能力：波长范围达190-1100nm，满足紫外、可见光区的全面分析需求。
✓ 出色的光度性能：光度准确度±0.3%T，重复性达0.15%T，杂散光≤0.05%T@220nm and340nm，保障数据可靠性。
✓ 多功能集成分析：支持光度分析、定量分析、时间扫描等多种实验模式，适应多样应用场景。
1. 光度分析与定量分析功能：提供精确的吸光度与透射率测量，支持标准曲线法进行样品浓度定量，适用于常规质量控制与成分分析。
2. 时间扫描功能：可对反应过程中的吸光度变化进行动态监测，用于动力学研究或反应速率分析。
3. 自动波长设置与系统校正：波长设置方式为自动，系统具备自动校正功能，确保波长准确度始终维持在±0.5nm水平。
4. 多接口数据输出：配备模拟接口和RS-232C接口，便于连接外部设备或计算机，实现数据导出与远程控制。
5. 高稳定性与低噪声表现：整机稳定性达±0.001A/小时，噪声同样为±0.001A，适合长时间连续运行与精密测量。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光学系统 | 比例监视双光束，1200line/mm高性能光栅 |
| 操作界面 | Win8操作界面 |
| 显示系统 | 8寸彩色触控屏 |
| 波长范围 | 190-1100nm |
| 波长准确度 | ±0.5nm (系统自动校正) |
| 波长重复性 | 0.2nm |
| 波长设置方式 | 自动 |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 杂散光 | ≤0.05%T@220nm and340nm |
| 光度显示范围 | 0%T to 125.0%T,-0.097 to 3.000A, 0C to 9999C(0-999F) |
| 光度准确度 | ±0.3%T |
| 光度重复性 | 0.15%T |
| 稳定性 | ±0.001A/小时，噪声：±0.001A |
| 基线平直度 | ±0.002A |
| 数据输出接口 | 模拟接口， RS-232C接口 |
| 电源要求 | 100-240VAC,47-63HZ |
| 外型尺寸 | 475 ´420´180 |
| 仪器重量 | 11kg |
适用领域：化学分析、生物医学研究、环境监测、食品检测、药品研发、教学实验等。
A：波长范围为190-1100nm。
A：支持，波长准确度为±0.5nm，并具备系统自动校正功能。
A：包括操作说明书1册、10mm比色皿架1只、玻璃比色皿4只、石英比色皿2只、电源连接线1根、防尘罩1个。
A：光度准确度为±0.3%T，光度重复性为0.15%T。
A：采用Win8操作界面，配备8寸彩色触控屏。
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