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上海恒平紫外可见分光光度计756PC仪器介绍：
产品介绍：
产品适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量进行定量分析，可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。
仪器基本功能
定量测试：单主机下测试样品透过率T、吸光度A和能量，自动设定波长，自动调0Abs/100%T，可保存200条测试记录，可外接微型打印机，打印数据报告。
标准曲线法测试：可进行一阶过零、一阶线性标准曲线测试。最多可建立12个标样点的标准曲线，浓度结果直接显示，可保存50条曲线参数，可保存多达200条测试记录，可外接微型打印机打印图谱和数据报告。
参数法测试：用户输入直线工作参数K和B，浓度结果直接测试显示，可外接微型打印机打印图谱和数据报告。
系统设定：灯源管理，系统时钟管理，暗电流校正，波长校正，灯切换波长设置，版本信息功能。
附有UV-Solution2.0工作软件，具有多种测试、扫描等功能。
技术参数
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参 数 |
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单色器 |
C-T式单色器，1200线全息光栅 |
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检测器 |
硅光二极管 |
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光源 |
卤钨灯20W/12V，氘灯，光源切换波长可设定 |
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显示器 |
128×64大屏幕液晶显示 |
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光谱带宽 |
2nm |
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波长范围 |
190~1100nm（步进间隔0.1nm） |
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波长最大允许误差 |
±1.0nm（开机自动校准） |
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波长重复性 |
≤0.5nm |
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测定范围 |
T：-1.0 ~ 200.0%T ，A：-0.5 ~ 3.000A，F：0 ~ 9999，C：0 ~ 9999 |
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透射比大允许误差 |
±0.5%T |
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透射比重复性 |
≤0.2%T |
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杂散光 |
≤0.15%T（在220、360nm处） |
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稳定性/噪声 |
暗电流＜0.2%T 、亮电流＜0.5%T |
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基线平直度 |
±0.004A |
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漂移 |
±0.002A/h |
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数据输出 |
USB接口，LPT并行打印接口 |
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软件支持 |
UV-Solution2.0工作站软件 |
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电源 |
220V±10% 50Hz 70W |
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尺寸 |
456×375×220 mm |
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净重 |
17.5kg |
