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F-320型荧光分光光度计是港东公司推出的中高端研究型分子荧光产品，核心部件均选自国外知名供应商，具备稳定的产品性能和强大的功能。该仪器广泛应用于食品安全检测、材料研究、环境监测等领域，适用于对荧光分析有高要求的科研与工业场景。
本仪器采用先进的光谱技术，支持高速三维扫描，可快速定位未知样品的荧光信息，显著提升分析效率。其高灵敏度设计结合水平狭缝技术，大幅降低样品需求量，仅需0.5mL即可完成测试。同时，配备独有避光保护系统和双背景扣除功能，确保数据准确性并延长设备使用寿命。
✓ 高速三维扫描：实现未知样品荧光信息快速定位，扫描过程高效，彩色三维谱图为学术研究提供可视化支持。
✓ 高灵敏度低样品消耗：水平狭缝设计提升检测灵敏度，10mm标准比色皿仅需0.5mL样品。
✓ 高速数据采集：扫描速度高达21000nm/min，配合先进数据系统，确保高速下光谱真实准确。
✓ 独有避光保护系统：发射侧门控光闸防止接收器被强光直射，有效延长使用寿命。
✓ 双背景扣除功能：软件支持灵活背景扣除，精准计算荧光强度与浓度，提升测试可靠性。
1. 高速三维荧光扫描
通过三维扫描功能可全面获取样品的激发-发射荧光图谱，特别适用于未知样品的荧光特性分析。高速扫描模式显著缩短分析时间，提高实验效率，生成的彩色三维图谱更利于科研成果展示与发表。
2. 水平狭缝设计提升灵敏度
激发与发射光路均采用独特的水平狭缝技术，在保证光通量的同时提高分辨率和信噪比。此设计使检测灵敏度显著提升，并将样品需求量降至最低，仅需0.5mL即可完成标准测试。
3. 超高速扫描能力
扫描速度可达21000nm/min，结合高性能数据采集系统，即使在高速扫描过程中也能获得密集的数据点，确保所测光谱的真实性与完整性，满足动态过程监测需求。
4. 避光保护延长使用寿命
发射侧配置门控光闸，在非测量状态或强光环境下自动关闭，避免光电接收器遭受直接照射，从而有效保护核心检测部件，延长仪器整体使用寿命。
5. 双背景扣除提升数据精度
软件工作站内置双背景扣除功能，用户可根据实际测试条件选择合适的扣除模式，消除溶剂或容器自身荧光干扰，直接输出校正后的荧光强度与浓度结果，提高定量分析准确性。
适用领域：食品安全检测、材料研究、环境监测、生物化学分析、药物研发等。
| 参数类别 | 技术指标 |
|---|---|
| 扫描速度 | 21000nm/min |
| 样品用量（10mm比色皿） | 0.5mL |
| 光谱技术 | 高速三维扫描，水平狭缝设计 |
| 背景扣除功能 | 双背景扣除 |
| 避光保护系统 | 发射侧门控光闸 |
A：扫描速度高达21000nm/min，结合先进数据采集系统，确保高速扫描下的光谱真实性与准确性。
A：使用10mm标准比色皿时，仅需0.5mL样品即可完成测试。
A：具备双背景扣除功能，可在软件中根据测试需求选择不同模式，有效消除背景干扰，提升数据精度。
A：核心技术包括高速三维扫描、水平狭缝设计、门控光闸避光保护系统以及双背景扣除功能，全面提升灵敏度、速度与可靠性。
A：广泛应用于食品安全检测、材料研究、环境监测、生物化学分析及药物研发等领域。
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