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DR-M4/1550多波长阿贝折射仪是一款高精度光学测量仪器，专为宽波长范围内材料折射率与阿贝数值的精确测定而设计。采用数显技术，摒弃传统目测读数方式，提升测量效率与准确性。
该仪器支持在450至1,550nm波长范围内进行多波段测试，适用于多种光学材料分析场景。配备打印机输出功能，可实时记录测量数据，便于实验追溯与报告生成，满足科研及工业检测对数据管理的需求。
✓ 多波长测量能力：覆盖从可见光到近红外波段（450至1,550nm），可在不同波长下精确测定折射率与阿贝数值。
✓ 数字化显示与操作：无需目视读数，数字直接显示测量结果，清晰准确，减少人为误差。
✓ 数据输出便捷：支持连接打印机，实现测量数据的即时打印与保存，提升实验记录效率。
✓ 高精度与高分辨率：折射率分辨率达0.0001，测量精度为±0.0002（使用589nm测试片），确保数据可靠性。
1. 宽范围波长测试功能：可在450nm、589nm、680nm、1,100nm和1,550nm等多个波长点进行折射率测量，适应不同材料的光学特性分析需求，尤其适合光学玻璃、聚合物和半导体材料研究。
2. 精准稳定的测量系统：具备高分辨率（折射率0.0001，阿贝数值0.1）和高测量精度（±0.0002），保证每次测量结果的一致性与可重复性。
3. 智能化数显设计：摒弃传统望远镜式目视读数，采用数字显示屏直观呈现测量值，操作更简便，读数更快速。
4. 多用途数据管理接口：支持外接打印机，便于现场打印测量结果，满足实验室规范化管理和数据存档要求。
5. 宽温区工作能力：可在5至50°C环境下稳定运行，适应不同实验室或工业现场的温度条件。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | DR-M4/1550 |
| Cat.No. | 1415 |
| 测量范围 | 折射率 1.5219至1.9155（450nm） 1.4700至1.8700（589nm） 1.4561至1.8544（680nm） 1.4310至1.8259（1,100nm） 1.4215至1.8136（1,550nm） |
| 分辨率 | 折射率0.0001，阿贝数值0.1 |
| 测量精度 | 折射率±0.0002 （采用589nm测试片） |
| 波长范围 | 450至1,550nm |
| 测量温度 | 5至50°C |
| 输出 | 打印机 |
| 光源 | 单色光源，尺寸，重量和电源分别： 22x30x20至30cm，5.2kgAC200至240V，50/60Hz |
| 电源 | AC100至240V，50/60Hz |
| 尺寸和重量 | 13x29x31cm，6.0kg（主机） 15x33x11cm，3.2kg（电源） |
适用领域：光学材料研究、半导体检测、化学分析、高校教学实验、质量控制与工业生产过程监控等。
A：其波长范围为450至1,550nm，支持在多个特定波长点下进行折射率测量。
A：折射率测量精度为±0.0002（采用589nm测试片），确保高准确度的数据输出。
A：支持连接打印机，可将测量数据直接打印输出，方便记录和归档。
A：可在5至50°C的环境温度下正常工作，适应大多数实验室和工业环境。
A：折射率分辨率为0.0001，阿贝数值分辨率为0.1，提供精细的测量能力。
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