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ATAGO（爱拓）NAR-4T 高折射率阿贝折光仪是一款专为高折射率材料设计的精密光学检测设备，适用于测量折射率极高的样品。传统阿贝折光仪在面对聚合物胶卷等新材料时往往受限，而NAR-4T突破这一限制，提供高达nD 1.8700的测量上限，满足现代工业对新型高折射率材质的检测需求。
该仪器广泛应用于新材料研发、光学薄膜、高分子聚合物等领域，具备高精度与宽温域操作能力。其双部件结构设计提升了温度控制与读数便利性，支持在5至50°C范围内精确测量，确保实验数据的稳定性与重复性。
✓ 宽测量范围：折射率（nD）1.4700 至 1.8700，适用于高折射率聚合物膜等特殊材料。
✓ 高测量精度：折射率精度达±0.0002，确保测试结果可靠稳定。
✓ 精准温控能力：测量温度范围5 至 50°C，温度精度±0.2°C，环境适应性强。
✓ 模块化结构设计：主机与温度显示部件分离，便于安装与操作，提升使用灵活性。
1. 专为高折射率材料优化：针对传统折光仪无法测量的高折射率样品（如特种聚合物薄膜）进行光学系统优化，实现nD 1.8700超高上限测量，拓展应用边界。
2. 高分辨率与重复性：提供0.001的折射率分辨率，配合±0.0002的测量精度，确保微小差异也能被准确识别，适合科研与质量控制场景。
3. 宽温区测量支持：可在5至50°C条件下进行测量，覆盖多数实验室与生产环境温度范围，减少环境干扰对结果的影响。
4. 分离式温度显示单元：配备独立温度显示部件（尺寸10x11x7cm，重量0.5kg），方便远程读取与布设，提升操作便捷性。
5. 全球通用电源适配：支持AC 100 至 240V，50/60Hz输入，适用于不同国家和地区的电力标准，保障设备稳定运行。
| 型号 | NAR-4T |
| 货号 | 1240 |
| 测量范围 | 折射率（nD） 1.4700 至 1.8700 |
| 分辨率 | 折射率（nD） 0.001 |
| 测量精度 | 折射率（nD） ±0.0002 |
| 平均分散值 | — |
| 测量温度 | 5 至 50°C |
| 温度精度 | ± 0.2°C |
| 环境温度 | 5 至 40°C |
| 电源 | AC 100 至 240V，50/60Hz |
| 功率 | 5VA |
| 尺寸和重量 | 13x18x23cm，1.8kg（主机） 10x11x7cm，0.5kg（温度显示部件） |
适用领域：高分子材料研究、光学薄膜检测、聚合物胶卷质量控制、新材料开发、工业品管等。
本仪器采用主机与温度显示部件分离式设计，提升布线与观测灵活性。主机尺寸为13x18x23cm，重量1.8kg，集成光学测量系统；温度显示部件尺寸为10x11x7cm，重量0.5kg，用于实时监控测量温度。
设备支持在环境温度5至40°C下稳定运行，测量过程可在5至50°C区间内进行，温度控制精度达±0.2°C，确保高折射率样品在不同热条件下的准确读数。
A：折射率（nD）测量范围为1.4700 至 1.8700。
A：折射率（nD）测量精度为±0.0002。
A：支持AC 100 至 240V，50/60Hz电源输入。
A：测量温度范围为5 至 50°C，环境温度要求为5 至 40°C。
A：适用于高分子聚合物、光学薄膜、胶卷材料等高折射率样品的检测。
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