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ATAGO（爱拓）DR-M2/1550 多波长阿贝折射仪是专为测量液晶材料双折射样品设计的高精度光学仪器，广泛应用于液晶材料检测领域。该型号支持在450至1,550nm波长范围内进行多波长折射率及阿贝数（vd或ve）测量，满足科研与工业对复杂光学特性的分析需求。
仪器采用边界线与相交线交叉点比对法实现精准测量，测量结果以数字形式清晰显示于液晶屏幕，提升读数准确性与操作效率。支持连接ATAGO（爱拓）数字打印机DP-63（B）（选配），便于数据记录与输出，适用于需要多波长光学参数比对的高端应用场景。
✓ 高精度多波长测量：可在450至1,550nm范围内多波长测量折射率与阿贝数，适用于液晶材料等复杂样品。
✓ 宽测量范围：折射率测量范围覆盖1.2662至1.7379（依波长不同），满足多种材料测试需求。
✓ 数字化显示与高分辨率：液晶屏直接显示数字结果，折射率分辨率达0.0001，阿贝数分辨率为0.1。
✓ 精准温控环境适应性：支持5至50°C测量温度范围，确保在不同实验环境下稳定运行。
1. 多波长折射率测量功能
支持在450nm、589nm、680nm、1,100nm和1,550nm五个波长下分别测量折射率，特别适用于液晶材料双折射特性分析，提供全面的光学参数数据。
2. 阿贝数自动计算与显示
可依据不同波长下的折射率自动计算并显示阿贝数（vd或ve），简化光学材料色散性能评估流程。
3. 高精度测量系统
采用光学边界对比技术，测量精度达±0.0002（使用589nm测试片），确保每次测量结果可靠稳定。
4. 智能化数字显示界面
测量结果以数字形式实时显示于LCD屏幕，避免传统目视误差，提高读数一致性与操作便捷性。
5. 数据输出扩展能力
配备打印机输出接口，可连接ATAGO（爱拓）数字打印机DP-63（B）（货号：3135，选配），实现测量数据即时打印存档。
| 型号 | DR-M2/1550 |
| Cat.No. | 1412 |
| 测量范围 | 折射率 1.3278 至 1.7379（450nm） 1.3000 至 1.7100（589nm） 1.2912 至 1.7011（680nm） 1.2743 至 1.6840（1,100nm） 1.2662 至 1.6759（1,550nm） |
| 分辨率 | 折射率 0.0001，阿贝数值 0.1 |
| 测量精度 | 折射率 ±0.0002 （采用 589nm 测试片） |
| 波长范围 | 450 至 1,550nm |
| 测量温度 | 5 至 50°C |
| 输出 | 打印机 |
| 光源 | 单色光源，尺寸，重量和电源分别： 22x30x20 至 30cm，5.2kg AC200 至 240V，50/60Hz |
| 电源 | AC100 至 240V，50/60Hz |
| 尺寸和重量 | 13x29x31cm，6.0kg（主机） 15x33x11cm，3.2kg（电源） |
适用领域：液晶材料研究、光学材料检测、科研实验室、工业质量控制、新材料开发等。
A：支持450至1,550nm范围内的测量，具体包括450nm、589nm、680nm、1,100nm和1,550nm五个波长。
A：折射率测量精度为±0.0002，基于589nm测试片进行校准。
A：可以，支持连接ATAGO（爱拓）数字打印机DP-63（B）（货号：3135），为选配附件。
A：测量温度范围为5 至 50°C，适用于常规实验室环境。
A：主机尺寸为13x29x31cm，重量为6.0kg；电源单元尺寸为15x33x11cm，重量为3.2kg。
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