上海光学 MN-59XC 模拟摄像偏光显微镜

产品概述

上光六厂推出的模拟摄像偏光显微镜MN-59XC是一款专为材料科学、地质矿产及生物医学等领域设计的专业级光学仪器。该设备采用透射照明系统，适用于对透明晶体、岩石、矿物以及具有双折射特性的物质进行精确观察与鉴定，广泛应用于地质、矿产、高等院校实验教学，同时也可用于纺织、化纤行业和医用单位对纤维与药物的检测分析。

本显微镜支持单偏光、正交偏光和锥光观察，并配备显微摄影功能，系统集成高清晰度JVC摄像头，可连接计算机实现图像的采集、编辑、保存与输出。总放大倍数范围为40X-630X，具备良好的扩展性与成像品质，是科研与教学领域中功能完备、性能稳定的理想选择。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 全面的偏光观察功能
支持单偏光、正交偏光和锥光观察模式，结合可旋转起偏镜组（360°）与检偏镜（180°），能够精准调控偏振方向，适用于晶体光学性质的深入研究。

2. 显微摄影与图像处理能力
配备JVC高清摄像头与SGL-V110图像采集卡，可通过摄像适配器连接计算机，实现显微图像的采集、编辑、保存和输出，便于实验记录与报告生成。

3. 精密机械结构设计
粗微动同轴调焦装置提供30mm调焦行程，微动格值达0.002mm；载物台可360°旋转并带等分刻度，确保样品定位精确可靠。

4. 高质量光学组件
采用PL10X系列平场目镜（包括十字、网格型）与平场消色差物镜（4X、10X、40X、63X），保证视场平坦、成像清晰，总放大倍数可达40X–630X。

5. 模块化扩展支持
支持选购图像分析软件、台式机或笔记本电脑及打印机，满足不同用户的数字化实验需求，系统兼容USB2.0接口设备。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：地质学研究、矿产资源分析、高等院校实验教学、纺织化纤检测、药物检验、材料科学与工业质量控制等。

产品细节/结构说明

标准配置清单：
1、三目透射偏光显微镜59XC
2、JVC摄像头
3、图像采集卡SGL-V110
4、摄像适配器
5、图像分析软件（选购）
6、台式机或笔记本电脑、打印机（选购）
硬盘60G、内存512M、独立显卡128M以上USB2.0接口

附件配置：
配备石膏λ、云母1/4λ试片、石英楔子和移动尺等专业附件，增强偏光分析能力，适用于定性与定量晶体光学测试。

光学系统特点：
采用科勒照明系统，确保照明均匀；阿贝聚光镜配合可变光栏，优化对比度与分辨率；起偏镜组可360°旋转并可移出光路，操作灵活。