上海彼爱姆 BM-SG20BD P 平板电脑型高级正置金相显微镜

产品概述

BM-SG20BD P 平板电脑型高级正置金相显微镜是专为半导体工业、硅片制造业、电子信息产业及冶金工业的高端检测需求而开发的精密光学仪器。该设备创新性地融合了传统光学显微技术与现代数字成像技术，采用落射和透射双照明型式，能够灵活切换以适应不同样品的观察需求。

在落射照明模式下，仪器支持明场、暗场、DIC（微分干涉对比）及偏光观察，而在透射光下则进行明场观察，极大地扩展了应用范围。其核心优势在于稳定且高品质的无限远光学系统，确保成像清晰、衬度优异。此外，整机设计严格遵循人机工程学，配合大尺寸平板显示终端，旨在为用户提供长时间工作下的舒适与放松体验。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 先进的观察模式组合：仪器不仅具备基础的明暗场观察能力，还集成了 DIC 微分干涉对比与偏光观察功能。这种多功能组合使得用户在检测半导体晶圆或金属组织时，能够更清晰地分辨表面微小起伏、应力分布及各向异性特征。

2. 数字化智能成像终端：区别于传统目镜观察，本机配置了专用适配镜与大尺寸高清平板电脑。用户可直接在屏幕上查看高倍放大的微观图像，支持安卓系统操作，便于图像的实时分享、存储及后续处理，显著提升了检测的直观性与协作效率。

3. 无限远光学架构：采用无限远校正光学系统，搭配超长工作距离的平场物镜组。这种设计不仅消除了像差，保证了视场边缘的清晰度，还为样品操作留出了充足的空间，方便进行探针测试或特殊夹具的安装。

4. 精密机械操控系统：配备了同轴粗微调焦机构，微调格值极小，确保在高倍率下也能实现精准对焦。双层机械移动平台具有较大的移动范围和精细的游标读数，支持对大尺寸样品进行快速定位与逐点扫描。

5. 灵活的光路调控：光源系统亮度连续可调，并配有孔径光阑和视场光阑，用户可根据样品特性优化对比度与分辨率。偏光装置中的检偏镜可旋转，且起偏镜与检偏镜均可移出光路，提供了极高的光路配置灵活性。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：广泛应用于半导体制造、集成电路封装、硅片加工、电子元件检测、金属材料研究、地质矿物分析及高校科研教学等领域。

典型用途：用于观察金属及合金的金相组织、半导体晶圆的表面缺陷、薄膜厚度与均匀性、PCB 板线路结构、陶瓷材料微观形貌以及各类复合材料的界面结合情况。

产品细节/结构说明

标准配置：主机包含无限远光学镜体、多只长工作距离平场物镜、超宽视场目镜及十字分划目镜。照明系统含透射与反射双路卤素光源。机械部分含大型移动平台与精密调焦机构。成像部分含 10.5 寸安卓平板电脑及专用光学适配接口。附件包含全套滤色片、偏光组件及电源线缆。

工作原理：光线经光源发出，通过聚光镜或物镜照射到样品表面或内部。反射光或透射光携带样品微观结构信息，经过无限远物镜准直后，由镜筒透镜汇聚成像。图像一方面可通过目镜供人眼直接观察，另一方面通过分光路径进入平板成像系统，转化为数字信号显示在屏幕上，实现光电同步观测。

操作提示：使用前请根据样品类型选择透射或反射照明模式。调节光源亮度及光阑大小以获得最佳对比度。使用偏光功能时，注意旋转检偏镜角度以消除反光或增强各向异性特征。高倍观察时请使用微调焦旋钮，避免物镜压伤样品。平板电脑可通过触控进行图像抓拍与保存。