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上光六厂 15JE 数显测量显微镜

上光六厂 15JE 数显测量显微镜

市场价:¥7500.00元 / 台 +加入询单篮
品 牌:
型 号:15JE
产品描述:产品概述上光六厂15JE数显测量显微镜是一款专为精密测量与微观观察设计的光学仪器。该设备集成了直角坐标长度测量、旋转角度测量及表面形貌观察三大核心功能,能够直接读出测量结果,显著提升了检测效率。凭借其
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产品名称
上光六厂 15JE 数显测量显微镜
所属分类
显微镜
品牌
未标注
型号
15JE
市场价
¥7500.00元
发货周期
现货
简要说明
产品概述上光六厂15JE数显测量显微镜是一款专为精密测量与微观观察设计的光学仪器。该设备集成了直角坐标长度测量、旋转角度测量及表面形貌观察三大核心功能,能够直接读出测量结果,显著提升了检测效率。凭借其

产品介绍

产品概述

上光六厂15JE数显测量显微镜是一款专为精密测量与微观观察设计的光学仪器。该设备集成了直角坐标长度测量旋转角度测量表面形貌观察三大核心功能,能够直接读出测量结果,显著提升了检测效率。

凭借其高稳定性光学系统精密机械工作台,该显微镜广泛适用于工业计量、模具制造、印刷制版及纺织纤维检验等领域。其结构设计科学合理,操作简便,既可作为专用量具使用,也可作为高倍观察显微镜,满足多样化的精密检测需求。


产品亮点/核心优势

✓ 多功能集成:支持长度、角度测量及表面观察,一机多用,适应性强。

✓ 直观读数:配备数显或精密刻度读取装置,减少人为读数误差,提升检测效率。

✓ 精密光学成像:采用高质量物镜与目镜组合,成像清晰,视场均匀,细节还原度高。

✓ 灵活工作台:支持多轴移动与360度旋转,可应对复杂几何形状零件的全方位测量。

✓ 结构稳固耐用:机身设计紧凑坚固,抗干扰能力强,确保长期使用的测量稳定性。


功能特点详解

1. 直角坐标精密测长:通过X、Y轴移动测量系统,可精确测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽及狭缝宽度等线性尺寸。配合十字尺目镜,实现对微小特征的精准对准与测量。

2. 360度旋转角度测量:测量台支持无限位旋转,结合高精度刻度盘与游标读数,可对刻度盘、样板、量规及钻孔模板进行全方位角度测定,满足复杂零件的角度公差检测需求。

3. 高倍率微观观察:作为观察显微镜使用时,可通过比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金矿石标本,或用于印刷照相制版的质量检验,提供清晰的微观视野。

4. 宽范围变倍观测:光学系统提供多档放大倍数,用户可根据被测物体大小及细节要求灵活切换,兼顾大视场搜索与高倍率细节分辨,提升检测灵活性。

5. 人性化操作设计:仪器整体布局合理,调焦手轮与移动手轮触感顺滑,工作距离适中,便于放置不同高度的被测工件,降低操作疲劳感,提升长时间工作的舒适度。


技术规格参数

项目参数
总放大倍数25X-100X
目镜10X 带十字尺 焦距:25.00mm
物镜10X/0.25 焦距:17.13mm
显微镜放大倍数100X
工作距离7.81mm
视场直径1.40mm
X轴移动测量范围50.00mm
Y轴移动测量范围13.00mm
测微器分度值0.01mm
测量台转动范围不限
测量台刻度盘分度范围0º ~ 360º
测量台刻度盘之分度值1 º
测量台刻度盘游读数示值6′
仪器示值误差±(5+L/15)微米 L—被测件长度(mm)
环境温度变化(20 ± 3) ºC
测量台与物镜间最大距离80mm
测量工作台直径120mm
仪器外形尺寸325 × 262 × 220 (mm)
包装尺寸375×285×250(mm)
仪器重量10.5kg


应用领域/适用场景

适用领域:精密机械制造、模具加工、钟表仪器、印刷制版、纺织工业、冶金地质及科研院所。

典型用途:用于测定各种零件的孔径、孔距、刻线宽度、键槽尺寸;对样板、量规及复杂几何零件进行角度测量;利用比较法检查表面光洁度;鉴定矿石标本及检验纺织纤维形态。


产品细节/结构说明

标准配置:主机底座、精密测量工作台(含X/Y轴移动机构及旋转刻度盘)、光学镜筒(含目镜与物镜)、照明光源系统及防尘罩。

工作原理:利用光学透镜组将被测物体放大成像于目镜分划板上,通过移动工作台使被测特征与分划板刻线对齐,读取工作台位移量或旋转角度,从而获得精确的几何尺寸数据。

操作提示:使用前请确保仪器放置在稳固无振动的工作台上,并调整水平。测量前需清洁被测件表面,避免灰尘影响成像清晰度及测量精度。定期校准仪器示值误差,以确保长期测量的准确性。

产品参数

物镜
10X/0.25 焦距:17.13mm
目镜
10X 带十字尺 焦距:25.00mm
仪器重量
10.5kg
包装尺寸
375×285×250(mm)
工作距离
7.81mm
视场直径
1.40mm
总放大倍数
25X-100X
仪器外形尺寸
325 × 262 × 220 (mm)
仪器示值误差
±(5+L/15)微米 L—被测件长度(mm)
测微器分度值
0.01mm
环境温度变化
(20 ± 3) ºC
显微镜放大倍数
100X
测量台转动范围
不限
测量工作台直径
120mm
X轴移动测量范围
50.00mm
Y轴移动测量范围
13.00mm
测量台刻度盘之分度值
1 º
测量台刻度盘分度范围
0º ~ 360º
测量台与物镜间最大距离
80mm
测量台刻度盘游读数示值
6′
型号
15JE

常见问题

Q:这款显微镜主要适用于哪些测量场景和用途?

A:上光六厂15JE数显测量显微镜集直角坐标长度测量、旋转角度测量及表面形貌观察于一体。它广泛适用于工业计量、模具制造、印刷制版及纺织纤维检验等领域,可用于测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽及狭缝宽度等线性尺寸,也可对样板、量规进行360度全方位角度测定,或通过比较法检查工作表面光洁度。

Q:该仪器的光学放大倍数和视场参数是多少?

A:该仪器的总放大倍数为25X-100X,其中显微镜放大倍数为100X。配备的目镜为10X带十字尺(焦距25.00mm),物镜为10X/0.25(焦距17.13mm)。在100X放大倍数下,其视场直径为1.40mm,工作距离为7.81mm,测量台与物镜间最大距离可达80mm。

Q:如何进行长度和角度的精密测量操作?

A:长度测量通过移动X轴(范围50.00mm)和Y轴(范围13.00mm)工作台,利用测微器(分度值0.01mm)使被测特征与目镜十字尺对齐并读数。角度测量则利用支持不限转动范围的测量台,结合0º~360º刻度盘(分度值1º)及游标读数示值(6′)进行精确对准和读取。操作时需确保环境温度在(20 ± 3) ºC范围内以保证精度。

Q:日常使用中应如何维护和保养仪器以确保精度?

A:使用前请确保仪器放置在稳固无振动的工作台上并调整水平。测量前需清洁被测件表面,避免灰尘影响成像清晰度及测量精度。由于仪器示值误差为±(5+L/15)微米(L为被测件长度mm),建议定期校准仪器以维持长期测量的准确性。此外,注意保持光学部件清洁,使用后建议覆盖防尘罩。

Q:仪器的物理规格、重量及包装尺寸是多少?

A:上光六厂15JE数显测量显微镜的仪器外形尺寸为325 × 262 × 220 mm,测量工作台直径为120mm。仪器净重为10.5kg。其包装尺寸为375×285×250 mm,便于运输和存储。

售后服务

下单流程
信息确认
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签订合同
签订合同
支付货款
支付货款
仓库发货
仓库发货
到货签收
到货签收
安装指导
安装指导
验收交付
验收交付
开具发票
开具发票

1、首先客户需要确认产品品牌、产品型号、产品货号、产品规格、参数、货期等;

2、其次确认产品旳使用须知,买卖双方信息相互,确认收货和收票地址;

3、科研仪器设备属于精密仪器,非产品质量问题本公司不做退换货处理,购买时请再三确认;

4、小型仪器退换货要求确保仪器未拆箱、未通电、未使用、附件包装完好无损不影响二次销售,联系客服人员处理退换货事宜;

5、退换货要求产品外包装套纸箱,禁止无包装发货,拒收到付;

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