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107JA型测量显微镜是由上光六厂研制的一款小型二维数显计量仪器。该设备集成了高精度的光学观察系统与先进的数字显示技术,主要采用透射与反射复合照明方式,能够清晰呈现被测物体的表面细节与轮廓特征。
作为一款多功能精密测量工具,它专为大规模集成电路线宽、钟表零件及其他微小精密件的几何参数测量而设计。仪器结构紧凑、体积小巧,不仅适用于专业计量室,也能灵活部署于生产作业线及科学研究部门,支持连接CCD系统进行扩展影像测量,是实现高效、精准微观几何量检测的理想选择。
✓ 双模式照明系统:具备透射与反射两种照明方式,适应不同材质与形态样品的观测需求,确保成像清晰。
✓ 高精度数显测量:内置高分辨率数显系统,提供精确的长度与角度数据读取,显著提升测量效率与准确性。
✓ 影像扩展能力:预留CCD接口,可轻松连接摄像系统进行影像测量与数据分析,拓展应用场景。
✓ 紧凑便携设计:仪器体积小、重量轻,便于在实验室、生产线等不同工作环境中灵活移动与部署。
✓ 广泛适用性:专为微电子、精密机械等领域设计,满足从研发到质检的多环节测量需求。
1. 二维精密测量能力:仪器专注于平面几何量的精确采集,能够对精密零部件的长度、角度等关键尺寸进行定性观察与定量分析,满足高标准计量要求。
2. 灵活的光学照明方案:配备透射与反射双重照明光源,用户可根据样品是透明晶圆还是不透明金属件,自由切换最佳观测模式,消除阴影干扰。
3. 数字化读数系统:采用高灵敏度数显装置,实时显示工作台移动坐标,操作直观简便,有效减少人为读数误差,提升检测速度。
4. 模块化影像接口:系统设计兼容性强,支持外接CCD摄像头,可将微观图像传输至显示器或电脑,便于进行更复杂的影像处理与存档管理。
5. 稳固精密的机械结构:尽管机身轻巧,但底座与导轨经过精密加工,确保在移动测量过程中保持极高的稳定性与重复定位精度。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 移动范围 | 100*100mm |
| 工作台尺寸 | 250*250mm (玻璃台面尺寸:210×175mm) |
| 数显分辨率 | 0.0005mm |
| 仪器的回程误差 | 0.002mm |
| 仪器测量准确度 | ≤(3+L/25)um(L为被测长度) |
| 仪器的质量 | 32.5kg |
| 仪器外形尺寸 | 420×550×600mm |
| 输入电压 | AC220/50Hz ±10%(工作照明电压5V/LED) |
适用领域:广泛应用于半导体制造、精密机械加工、钟表制造、科研院所及高校实验室等对微观尺寸有严格控制的行业。
典型用途:主要用于大规模集成电路(IC)的线宽测量、掩膜版检测、小型精密零件(如齿轮、弹簧、钟表组件)的几何参数检验,以及材料表面的微观形貌分析。
标准配置:主机包含精密移动工作台、双目观察头、透反射照明光源系统、高精度数显箱及电源适配器。玻璃载物台为标准附件,用于放置透明或半透明样品。
工作原理:利用光学显微成像原理,将微小物体放大成像于人眼或CCD传感器。通过精密丝杆驱动工作台在X、Y轴方向移动,结合光栅尺或磁栅尺反馈位移信号,由数显系统实时计算并显示两点间的距离或角度变化。
操作提示:使用前请确保仪器放置在平稳无振动的台面上;根据样品特性选择合适的照明方式(透射或反射);测量前建议进行零点校准以确保数据准确;连接CCD时请注意接口匹配与驱动安装。
A:该设备是一款小型二维数显计量仪器,专为大规模集成电路线宽、钟表零件及其他微小精密件的几何参数测量而设计。它广泛应用于半导体制造、精密机械加工、钟表制造、科研院所及高校实验室,支持透射与反射复合照明,也可连接CCD系统进行扩展影像测量。
A:仪器的数显分辨率为0.0005mm,回程误差为0.002mm。仪器测量准确度为≤(3+L/25)um(其中L为被测长度),能够提供高精度的长度与角度数据读取。
A:仪器输入电压为AC220/50Hz ±10%(工作照明电压5V/LED)。其工作台尺寸为250*250mm(玻璃台面尺寸:210×175mm),移动范围为100*100mm,使用时请确保放置在平稳无振动的台面上。
A:由于仪器质量为32.5kg且结构精密,建议放置在稳固、无振动的环境中。使用前应根据样品特性(透明或不透明)选择合适的透射或反射照明方式,并进行零点校准。保持玻璃载物台清洁,避免灰尘影响成像清晰度。
A:支持。107JA型测量显微镜预留了CCD接口,具有影像扩展能力,可轻松连接摄像系统将微观图像传输至显示器或电脑,便于进行更复杂的影像处理、数据分析与存档管理。








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