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102XB工业金相显微镜是专为半导体、硅片制造、电子信息及冶金工业需求开发的高级光学检测仪器。该设备采用无限远光学校正系统，支持透射、反射、偏光及暗场多种观察方式，具备三目镜筒与标准C口，可连接摄像系统。
其长工作距离物镜设计适用于较厚标本及精密模具检测，广泛应用于电路板、铸件、金属及陶瓷部件的金相组织观察与分析，为用户提供清晰、稳定的微观成像体验。
✓ 无限远光学系统：提供卓越的光学扩展性与成像质量，确保图像边缘清晰无畸变。
✓ 多功能观察模式：集成透射、反射、偏光及暗场照明，满足多样化材料表面及内部结构检测需求。
✓ 长工作距离设计：配备专用长距物镜，方便对较高或较厚的工业样品进行无损观察。
✓ 灵活扩展接口：标配三目镜筒及标准C型接口，便于无缝对接数码摄像系统进行图像采集。
✓ 精密机械操控：同轴粗微动调焦机构配合双层移动平台，实现平稳精准的样品定位与聚焦。
1. 高级无限远光学架构：采用先进的无限远色差校正光学系统，有效消除像差，为高倍率下的细节还原提供坚实基础，确保金相组织观察的准确性。
2. 复合照明与偏光分析：内置卤素光源并配备孔径与视场光栏，支持亮度调节；偏光装置中起偏镜与检偏镜均可移出光路，检偏镜可旋转，便于各向异性材料的应力与结构分析。
3. 宽范围物镜配置：提供从低倍到高倍的多款长距明暗场物镜选择，覆盖不同放大需求，大数值孔径设计保证了良好的分辨率与景深表现。
4. 稳固载物与调焦系统：双层机械移动平台提供充足的行程范围，适应大尺寸样品检测；齿轮齿条传动的同轴调焦机构操作手感顺滑，微动精度高，利于深层聚焦。
5. 人性化工业设计：整机结构紧凑稳固，光路切换便捷，符合人体工程学设计，适合实验室及生产线长时间连续作业使用。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光学系统 | 无限远光学校正系统 |
| 目镜筒 | 三目镜筒/标准C口 |
| 光学方式 | 透射、反射、偏光、暗场 |
| 目镜倍率 | 10X（标） |
| 目镜视场范围（mm） | 25 |
| 物镜倍率 | 5X, 10X, 20X, 40X, 50X, 100X(选) |
| 数值孔径NA | 0.10, 0.25, 0.40, 0.60, 0.55, 0.8 |
| 工作距离（mm） | 29.4, 16, 10.6, 5.4, 5.1, 3 |
| 物镜转换 | 五孔转换器 |
| 台平台尺寸 | 192×141mm |
| 移动范围 | 50×40mm |
| 微动格值 | 0.002 mm |
| 照明装置 | 卤素灯12V/50W, AC85V-230V |
适用领域：半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业、材料科学研究。
典型用途：FPD（平板显示器）检测、电路封装与基板检查、铸件/金属/陶瓷部件金相分析、精密模具表面缺陷检测、较厚标本的微观结构观察。
标准配置：主机机身、三目观察头、10X广角目镜、五孔物镜转换器、长工作距离明暗场物镜组、双层机械移动载物台、卤素照明电源及灯泡、偏光组件（起偏镜/检偏镜）。
工作原理：利用光线经物镜照射至样品表面，通过反射或透射光路收集样品表面的微观形貌信息，经无限远光学系统校正后成像于目镜分划板或相机靶面，结合偏光元件可进一步分析材料的双折射特性。
操作提示：使用前请确认电源电压匹配，调节孔径光栏与视场光栏以获得最佳对比度；切换物镜时注意工作距离，避免镜头碰撞样品；定期清洁光学表面以保持成像清晰度。
A：上光六厂102XB三目金相显微镜专为半导体、硅片制造、电子信息及冶金工业需求开发。典型用途包括FPD（平板显示器）检测、电路封装与基板检查、铸件/金属/陶瓷部件的金相组织观察与分析，以及精密模具表面缺陷检测和较厚标本的微观结构观察。
A：该设备采用无限远光学校正系统，标配10X目镜，视场范围为25mm。物镜倍率可选5X, 10X, 20X, 40X, 50X, 100X，对应的数值孔径(NA)分别为0.10, 0.25, 0.40, 0.60, 0.55, 0.8。支持透射、反射、偏光及暗场多种光学观察方式，确保图像边缘清晰无畸变。
A：该显微镜配备三目镜筒及标准C口，可无缝对接数码摄像系统进行图像采集。载物台采用双层机械移动平台，尺寸为192×141mm，移动范围为50×40mm。调焦机构微动格值为0.002 mm，配合齿轮齿条传动，可实现平稳精准的样品定位与深层聚焦。
A：为保持成像清晰度，需定期清洁光学表面。使用时应注意调节孔径光栏与视场光栏以获得最佳对比度。在切换物镜时，请务必注意工作距离（范围从3mm到29.4mm不等），避免镜头碰撞样品。此外，起偏镜与检偏镜均可移出光路，不使用时建议妥善存放或移出以减少光路干扰。
A：该显微镜采用卤素灯作为照明装置，规格为12V/50W。电源输入电压支持AC85V-230V宽电压范围，适应不同地区的电力环境。内置孔径与视场光栏，并支持亮度调节，以满足不同材料表面及内部结构的检测需求。
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