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BM-53XFC电脑正置金相显微镜是一款高性能的光学分析仪器，采用无限远光学系统，支持反射和透射两种照明方式，并配备偏光装置，适用于多种材料微观结构的观察与分析。该显微镜集明场、偏光和透射观察功能于一体，广泛应用于金相、矿相、晶体及微电子领域的科研与检测。
本仪器设计新颖，操作便捷，性能稳定可靠，适用于工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门。配合可选配的金相图像分析软件，可在计算机上实现测量、分析与评级，提升实验效率与数据处理能力。
✓ 多种观察模式：支持反射光下的明场与偏光观察，以及透射光下的明场观察。
✓ 高精度光学系统：采用无限远平场消色差物镜与平场目镜，成像清晰、视场宽广。
✓ 灵活照明配置：落射与透射照明均采用6V30W卤素灯，亮度可调，满足不同样品需求。
✓ 计算机成像兼容：支持外接CCD摄像头与图像采集系统，便于数字化分析。
✓ 人性化设计：铰链式三目筒30°倾斜，瞳距可调（53–75mm），操作舒适。
1. 多模式光学观察系统
BM-53XFC支持反射光和透射光两种照明形式，可在同一台设备上完成明场、偏光及透射观察，适用于金属、矿物、半导体等多种样品类型，提升设备通用性。
2. 无限远光学设计
采用无限远平场消色差物镜与平场目镜组合，确保图像边缘无畸变、色彩还原准确，配合1X镜筒系数，实现50X至600X的总放大倍数，满足常规金相分析需求。
3. 精密调焦与载物平台
配备粗微动同轴调焦装置，微动格值达0.002 mm，定位精准；载物台移动范围为63mm×50mm，平台尺寸210mm×140mm，适合大尺寸样品观测。
4. 偏光装置灵活可调
检偏镜支持360°旋转，起偏镜与检偏镜均可移出光路，方便在偏光与非偏光模式间切换，提升使用灵活性。
5. 可扩展数字成像系统
可通过选购CCD摄像头、适配镜及USB外置图像采集卡，连接计算机进行图像采集与分析，支持金相图像软件评级功能。
| 类别 | 放大倍数 | 视场直径(mm) |
|---|---|---|
| 平场目镜 | 10X | φ22 |
| 类别 | 放大倍数 | 数值孔径N.A（mm） | 工作距离（mm） |
|---|---|---|---|
| 无限远平场消色差物镜 | 5X | 0.12 | 26.10 |
| 10X | 0.25 | 20.20 | |
| 40X | 0.60 | 3.98 | |
| 60X | 0.70 | 2.08 |
| 物镜 | 目镜 | 镜筒系数 | 总放大倍数 |
|---|---|---|---|
| 5X | 10X | 1X | 50X |
| 10X | 100X | ||
| 40X | 400X | ||
| 60X | 600X |
三目筒：铰链式镜筒，30°倾斜
机械筒长：无限远系统∞
瞳距：53-75mm
载物台：平台尺寸：210mm×140mm；移动范围：63mm×50mm
滤色片：黄、蓝、绿滤色片与磨砂玻璃片
调焦装置：粗微动同轴调焦带限位、粗动调焦张力锁紧装置；微动格值：0.002 mm
聚光镜：N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光栏及滤色片
偏光装置：检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
光源：落射照明，卤素灯 6V30W，亮度可调；透射照明，卤素灯 6V30W，亮度可调
计算机成像系统：CCD摄像头、CCD适配镜、外置式图像视频采集卡(A/D)USB接口 (电脑自购)
适用领域：金相分析、矿相研究、晶体结构观察、微电子器件检测、材料科学、高等院校教学、科研机构实验等。
三目筒结构：采用铰链式设计，倾斜角度为30°，便于多人观察或连接摄像系统。
调焦系统：粗微动同轴调焦，配备限位装置与张力锁紧功能，防止物镜碰撞样品，提升操作安全性。
聚光镜配置：配备N.A.1.25阿贝聚光镜，带有可变光栏和滤色片插槽，优化照明均匀性与对比度。
偏光组件：起偏镜和检偏镜均可从光路中移出，检偏镜支持360°连续旋转，便于精确偏振角度调节。
照明系统：双路卤素灯设计，落射与透射照明独立控制，均为6V30W，亮度连续可调，适应不同反光率与透光率样品。
图像采集扩展：可通过加装CCD摄像头、适配镜及外置USB图像采集卡，实现计算机实时成像与分析，软件需另行配置。
A：支持反射光下的明场和偏光观察，以及透射光下的明场观察。
A：最大总放大倍数为600X，由60X物镜、10X目镜和1X镜筒系数组合实现。
A：支持，需选配CCD摄像头、CCD适配镜和外置式图像视频采集卡(USB接口)，电脑需用户自购。
A：载物台移动范围为63mm×50mm，平台尺寸为210mm×140mm。
A：微动格值为0.002 mm，确保精细聚焦与高重复性定位。
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