Leica DM4 M 数字化金相显微镜是一款专为材料科学和质量控制领域设计的高性能研究级半自动金相显微镜，适用于金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件及粉尘颗粒等样品的观察与分析。该显微镜具备出色的光学性能和高品质图像输出能力，支持多种观察方式，确保检测结果真实、可再现。
采用模块化设计，支持透射与反射光路切换，配备复消色差光路系统，整体光路支持25mm视野直径，提供明场、暗场、偏光、微分干涉（DIC）等多种观察模式。内置LED透反射照明光源，结合智能控制系统，可一键存储和恢复成像条件，显著提升操作效率与数据可靠性。
✓ 智能编码控制：物镜转盘带编码功能，不同倍数物镜下自动加载对应比例尺，确保图像可再现性。
✓ 多模式快速切换：选择特定观察模式后，不到一秒钟所有光学元件自动进入光路，并同步调整照明、亮度与光阑位置。
✓ LED冷光源照明：白光LED照明适用于所有观察方法，无热辐射保护样本，色温稳定，寿命长达20000小时。
✓ 高效人机交互：机身配备液晶显示屏，实时显示各部件状态参数，支持按键或计算机远程控制。
✓ 强大分析软件支持：可配接摄像头与专业分析软件，实现晶粒度、相分析、铸铁、脱碳、夹杂物及清洁度等深度分析。
1. 多种观察方式集成
支持明场、暗场、偏光、微分干涉（DIC）等多种观察方法，满足不同材料表面结构的成像需求，尤其适合复杂微观形貌的精细解析。
2. 模块化灵活配置
可扩展连接高温热台、荧光光源、阴极发光仪、光度计等外设设备，同时支持4X4或6X6大尺寸样品台，适用于硅片等大样品检测。
3. 自动化成像记忆功能
系统可自动记忆不同物镜与观察方式下的最佳光强、光阑及聚光镜组合，再次使用时一键恢复，避免重复调试，提高工作效率。
4. 宽视野高分辨率成像
搭载1.25x全景物镜，可快速获取样本整体概览；高分辨率暗场（HDF）技术呈现更多表面细节，增强对比度与清晰度。
5. 数字化图像管理
支持摄像头图像采集与存储，配合专业软件进行测量、标注与报告生成，便于数据归档与追溯。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 预算 | 手动编码控制的 Leica DM4 M 是一款性价比很高的解决方案，适用于常规 |
| 换 | 选择一个特定的观察模式，不到一秒钟，所有元件均将转 |
适用领域：材料科学、金属冶炼、陶瓷工业、半导体制造、电子元器件质检、科研实验室、高校教学、工业品控等。
· 研究级半自动金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件、粉尘颗粒等样品观察分析
· 模块化设计，可实现透、反射观察
· 复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径
· 6孔位手动物镜转盘，配接直径32mm物镜，物镜转盘带编码，可在不同倍数的物镜下自动加载相应倍数的比例尺
· 提供明场、暗场、偏光、微分干涉等观察方式
· 机身内置LED透、反射照明光源，智能光强变化的控制照明方式，可选配卤素灯
· 可自动记忆不同物镜与观察方式下最佳的光强，光阑及聚光镜的组合，自动恢复到位，操作简单快速
· 机身带液晶显示屏，显示显微镜各部件的工作状态和参数
· 光强、光阑、观察方式和聚光镜调节除了按键控制外，还可由计算机控制
· 可配接摄像头观察和采集图像，并提供专业分析软件
· 可配接高温热台、荧光光源、阴极发光仪、光度计等
· 可配接4X4或6X6大样品台，观察硅片等大尺寸样品
软件强大的专业分析功能，包括晶粒度分析、相分析、铸铁分析、脱碳分析、夹杂物分析和清洁度分析等
A：Leica DM4 M 提供明场、暗场、偏光、微分干涉等观察方式，满足多种材料分析需求。
A：是的，物镜转盘带编码功能，成像参数与图像一同存储，可确保检验数据的真实性和可再现性。
A：采用LED照明系统，无热量产生，保护样本；色温稳定，适用于所有观察方法，使用寿命长达20000小时。
A：可以，系统可自动记忆不同物镜与观察方式下的最佳光强、光阑及聚光镜组合，并支持一键恢复。
A：支持，可配接4X4或6X6大样品台，适用于硅片等大尺寸样品的检测任务。
1、首先客户需要确认产品品牌、产品型号、产品货号、产品规格、参数、货期等；
2、其次确认产品旳使用须知，买卖双方信息相互，确认收货和收票地址；
3、科研仪器设备属于精密仪器，非产品质量问题本公司不做退换货处理，购买时请再三确认；
4、小型仪器退换货要求确保仪器未拆箱、未通电、未使用、附件包装完好无损不影响二次销售，联系客服人员处理退换货事宜；
5、退换货要求产品外包装套纸箱，禁止无包装发货，拒收到付；
客服电话：13760608322
全部商品分类
