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Visoria M材料显微镜是一款专为工业和科研领域日常材料检验设计的数字式显微镜，适用于金属、合金、电子组件、机械部件、复合材料、玻璃及陶瓷等样品的微观结构分析。结合Enersight软件平台，该系统支持截面分析与层厚测量，显著提升检测效率与数据可靠性。
显微镜采用无目镜设计，支持直接在平板电脑上实时查看图像，实现更舒适的人体工学操作体验，减少长时间工作带来的疲劳。配备编码功能与自动光强管理，可在切换放大倍率或观察方式时自动优化照明设置，无需手动调节，大幅节省操作时间。多种观察方式包括明场、暗场、偏光、微分干涉(DIC)、倾斜照明和荧光，满足多样化样品成像需求。
✓ 无目镜数字成像：直接在平板上查看图像，以舒适姿势工作，便于团队协作讨论结果。
✓ 自动光强管理：切换放大倍率或观察模式时自动调节亮度，提升工作效率。
✓ 多种观察方式：支持明场、暗场、DIC、偏光、倾斜照明和荧光，全面呈现样品细节。
✓ 宏观物镜快速定位：选配0.7倍宏观物镜可实现直径约36毫米区域的快速概览，提高筛选效率。
✓ Enersight软件集成：提供层厚测量、XY拼接、景深扩展(EDOF)、图像融合等功能，优化分析流程。
1. 无目镜数字操作体验
通过连接平板设备，用户可在屏幕上直接观察样品图像，摆脱传统目镜限制，实现更自然的坐姿操作。图像可即时记录并共享，便于多人协作与远程评审，同时省去电脑主机，节约实验台空间。
2. 智能光强管理
显微镜具备编码功能，当更换物镜或切换观察方式时，系统自动匹配最佳照明强度，避免频繁手动调光，确保成像一致性，并显著缩短准备时间。
3. 多模式观察技术
支持明场(BF)用于常规特征测量；暗场(DF)用于表面污染与结构缺陷检测；微分干涉(DIC)突出表面起伏；偏光用于各向异性材料分析；倾斜照明增强表面形貌对比度；荧光模式适用于特定标记样品观察。
4. 0.7倍宏观物镜（选配）
可快速获取直径约36毫米的大视野图像，实现样品整体概览与快速定位，相比传统物镜大幅缩短初筛时间，随后可无缝切换至高倍物镜进行精细观察。
5. Enersight软件平台驱动
集成直观的操作界面，支持图像拼接、层厚测量、景深扩展(EDOF)、多通道图像融合（如明场+暗场）、自动阴影校正等功能，提升数据分析精度与报告生成效率。
适用领域：电子行业质量控制、金属与合金检测、复合材料分析、材料科学研究、故障分析、研发实验室、PCB与微芯片检验、涂层与层厚评估等。
使用数字式显微镜，实现无目镜工作
通过优化的光强设置来节省时间
使用Visoria M，您可以有更多时间来观察和检查样品。如果您改变显微镜的放大倍率或观察方式，则无需手动调整亮度，因为它具有光强管理功能。得益于显微镜的编码功能，照明设置会自动调节到合适的光强。
以合适的观察方式呈现样品细节
在工业和材料检验以及研发领域，使用Visoria M可以观察样品结构和缺陷（如划痕或污染）的细节。
它使用多种观察方式，包括
使用0.7倍宏观物镜快速概览样品
当您需要观察宏观结构时，可以使用选配的0.7倍宏观物镜快速从样品概览切换到观察微小细节。
它让您一眼就能看到直径约36毫米的样品区域，并实现快速定位和概览。与使用传统物镜概览样品相比，使用宏观物镜可以节省样品筛选时间。
您还可以使用各种物镜在更高放大倍率下观察样品的微小细节。
由Enersight软件平台驱动
使用Visoria M材料显微镜和Enersight软件平台可以让您的工作流程简化且更有效率。它提供一个直观的界面，帮助您无缝地比较、测量和共享数据。
重要优势：
显微镜观察方式及其应用领域
使用Visoria M材料显微镜，以各种观察方式高效观察和分析零部件及材料样品。
在电子、金属和聚合物行业以及材料科学领域，您可以使用明场、暗场、DIC、偏光和斜照明方式来呈现表面结构。
Visoria M可用于执行与质量控制、故障分析和研发相关的各类日常检测任务。
· 明场(BF)
使用入射光明场观察方式对样品特征进行测量。
· 暗场(DF)
利用入射光暗场观察方式检测表面结构和污染。
· 微分干涉(DIC)
利用DIC方式检查样品表面以观察起伏差异。
电子
在电子行业质量控制中，使用Visoria M材料显微镜可以提升日常检测流程。
利用多种有效的观察方式，包括明场、暗场、斜照明、微分干涉对比(DIC)和偏光。在检查印刷电路板(PCB)、微芯片和微电子组件时，这些观察方式让您能够清晰地看到细节。
使用Visoria M可以检测产品样品上的微小缺陷和不规则之处，帮助您简化检测流程，确保符合高质量标准。
材料和金属
Visoria M可帮助您对材料和金属相关应用进行日常检测。它能够检测和定位特定的样品结构及缺陷。
在宏观结构的检测和记录方面，0. 7倍的宏观物镜可帮助您查看样品概况。轻松切换不同的放大倍率和观察方式，呈现样品上的重要结构，以便进行质量控制和故障分析。
复合材料
使用Visoria M，您可以充分挖掘复合材料的潜力，此类材料以其优异的强度和轻质特性而著称。
这款显微镜专为日常检测和质量控制而设计。Visoria M提供多种观察方式，有助于在检测过程中呈现复杂的细节和细微的缺陷，确保材料符合您的质量标准。
A：支持明场、暗场、偏光、微分干涉(DIC)、倾斜照明和荧光等多种观察方式。
A：无需电脑，图像可直接在平板电脑上查看和操作，节省工作台空间。
A：通过编码功能实现自动光强管理，切换放大倍率或观察方式时自动调节亮度，减少手动设置时间。
A：可选配0.7倍宏观物镜，实现直径约36毫米的样品区域快速概览，便于快速定位。
A：支持层厚测量、XY拼接、景深扩展(EDOF)、图像融合、自动阴影校正等功能，提升分析效率。
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