瑞得威 WLC 30/F1/K 精密天平

A：瑞得威 WLC 30/F1/K 精密天平专为高强度工业称重及实验室应用设计。它广泛应用于工业生产控制、物流仓储称重、实验室原料配比、质量检测中心以及商业贸易结算等领域。特别适用于大宗样品的高精度称量、包装检重、配方管理以及需要数据追溯的质量管控环节。

A：该天平的最大量程 [Max] 为 30kg，可读性 [d] 为 0.5g。其标准重复性为 0.5g，线性误差为 ±1.5g，去皮范围为 -30kg。这些参数确保了在大载荷范围内依然能提供稳定且精准的称重结果。

A：使用前请通过底部脚垫进行手动水平调节，将水平泡调整至中心位置，并确保放置台面稳固无振动。由于采用外校方式，建议定期使用外部砝码对称量系统进行校正。此外，应避免在强气流或温度剧烈变化的环境中使用，以维持最佳精度。

A：该天平配备宽大的不锈钢秤盘，尺寸为 300×300mm，能够适应各种形态样品的放置需求，且耐腐蚀、易清洁。显示屏采用背光 LCD 屏幕，配合大尺寸显示区域，确保在不同光线环境下均能提供清晰、直观的读数体验。

A：产品内置 ALIBI 内存与实时时钟，可自动记录称重数据与时间戳，满足合规性追溯要求。它标配多种通信接口，支持连接打印机、PC 及 U 盘以实现数据快速导出。售后方面，标准配置包含主机、秤盘、电源适配器及操作说明书，用户可通过丰富的外设扩展构建高效的数据管理工作流。