梅特勒托利多XSE205DU是一款高性能的准微量/半微量天平,专为实验室精密称量设计。该设备采用先进的传感器技术与坚固的压铸铝合金外壳,确保在复杂环境下依然保持卓越的稳定性与准确性。
其双量程设计兼顾了微量样品的灵敏度与大载荷的实用性,配合快速稳定技术,显著提升实验效率。适用于制药、化工及科研机构中对微量物质进行高精度分析的场景,是追求数据完整性与操作便捷性的理想选择。
✓ 双量程智能切换:兼具微量称量的高分辨率与常规称量的大量程,满足多样化实验需求。
✓ 极速稳定技术:优化的滤波算法大幅缩短读数稳定时间,提升高通量实验室的工作效率。
✓ 卓越重复性:高精度传感器确保多次称量结果的高度一致,保障实验数据的可靠性。
✓ 坚固耐用结构:一体化压铸铝合金外壳提供优异的抗干扰能力与长期机械稳定性。
✓ 合规性支持:符合USP最小称量值指导原则,助力实验室通过严格的质量审计与认证。
1. 高分辨率双量程系统:该天平具备两个独立的称量范围,用户无需更换设备即可在微量精细称量与常规样品称重之间无缝切换,极大扩展了应用灵活性。
2. 优化的动态称量性能:内置先进的数字信号处理技术,能有效过滤环境振动与气流干扰,即使在非理想实验室条件下也能迅速锁定稳定读数。
3. 精准的线性误差控制:通过精密的校准算法,确保在整个称量范围内保持极低的线性偏差,为痕量分析提供可信度极高的质量数据。
4. 人体工学设计与防护:紧凑的结构设计节省台面空间,同时配备标准尺寸的秤盘与防风罩接口,便于操作并保护核心传感器免受外界影响。
5. 严格的质量控制标准:依据典型的最小称量值设定,帮助操作人员识别称量下限风险,确保每一次微量称量都在仪器最佳性能区间内运行。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | XSE205DU |
| 量程 | 81.0 g; 220.0 g |
| 可读性 | 0.01 mg; 0.1 mg |
| 最小称量值 (USP),典型值 | 20.0 mg |
| 稳定时间 | 1.5 sec |
| 线性误差(典型值)± | 0.2 mg |
| 重复性 | 0.01 mg |
| 重复性(校验砝码) | 10.0 g |
| 尺寸 高度 | 322.0 mm |
| 尺寸 宽度 | 263.0 mm |
| 尺寸 深 | 482.0 mm |
| 外壳 | 压铸铝合金 |
| 秤盘外形尺寸 宽度 | 73.0 mm |
| 秤盘外形尺寸 深 | 78.0 mm |
适用领域:广泛应用于制药研发、化学合成、材料科学、环境监测及高校科研实验室。
典型用途:适用于微量粉末试剂的精确配制、高价值原料的定量分析、滤膜及微小部件的质量检测,以及需要符合GLP/GMP规范的常规质量控制流程。
标准配置:主机包含高精度称重传感器单元、不锈钢秤盘、防风罩组件及电源适配器,出厂前经过严格的线性与角差校准。
工作原理:基于电磁力平衡原理,通过检测线圈在磁场中的位移来补偿重力变化,结合高分辨率模数转换器将模拟信号转化为数字质量读数。
操作提示:建议将天平放置在稳固、无振动的实验台上,避免阳光直射与强气流干扰;使用前需预热以达到最佳热稳定性,并定期进行内部或外部校准以维持精度。
A:该天平专为实验室精密称量设计,适用于制药、化工及科研机构。典型用途包括微量粉末试剂的精确配制、高价值原料的定量分析、滤膜及微小部件的质量检测,以及需要符合GLP/GMP规范的常规质量控制流程。
A:XSE205DU 采用双量程设计,量程分别为 81.0 g 和 220.0 g;对应的可读性分别为 0.01 mg 和 0.1 mg。这种设计兼顾了微量样品的灵敏度与大载荷的实用性。
A:建议将天平放置在稳固、无振动的实验台上,避免阳光直射与强气流干扰。使用前需预热以达到最佳热稳定性,并定期进行内部或外部校准。此外,应确保称量样品不低于最小称量值(USP典型值为 20.0 mg),以保障数据可靠性。
A:该天平外壳采用压铸铝合金,坚固耐用。维护时需注意保持秤盘(尺寸:宽 73.0 mm,深 78.0 mm)清洁,避免腐蚀性物质接触。由于具备极速稳定技术(稳定时间 1.5 sec),在环境变化较大时,建议增加校准频率以维持线性误差(典型值 ± 0.2 mg)和重复性(0.01 mg)在最佳状态。
A:您可以参考以下核心性能指标:重复性为 0.01 mg(使用 10.0 g 校验砝码测试),线性误差典型值为 ± 0.2 mg,最小称量值(USP)典型值为 20.0 mg。如需进一步售后支持,请联系梅特勒托利多官方售后服务渠道,提供型号 XSE205DU 以获取专属帮助。








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