METTLER XP56 微量天平

产品概述

XP2U/XP6微量天平与XP26/XP56微量天平是高精度实验室称量设备，专为对称量准确性、重复性和合规性要求严苛的应用场景设计。产品融合ProFACT专业级全自动校准技术、SmartSens红外感应操作和SmartScreen智能触摸屏，提供稳定可靠的称量性能，适用于制药、科研、质量控制等高端实验环境。

该系列天平配备中文界面的彩色智能触摸屏、动态图形辅助显示、用户管理权限设置及符合GxP规范的数据输出功能，支持多种通信接口扩展，确保操作便捷、数据可追溯。部分型号具备双量程（DU）或变量程（DR）设计，满足多样化的称量需求，同时具备易清洁防风罩与抗腐蚀保护，提升日常维护效率。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. ProFACT全自动校准技术
采用温度漂移和定时触发机制，自动执行内置砝码校准和线性校准，避免人为干预遗漏，确保在环境变化下仍保持高精度称量结果。

2. SmartSens红外感应操作
通过非接触式感应完成开关防风罩、去皮、打印等关键操作，降低交叉污染风险，特别适用于洁净室或有害物质处理环境。

3. SmartScreen智能触摸屏与SmartTrac图形显示
全彩中文触摸屏支持个性化界面设置，SmartTrac动态图形直接显示当前称量值与允差范围，辅助用户快速判断合格性。

4. MinWeigh最小称量值功能
可设置3个不同的MinWeigh阈值，确保所有称量操作不低于天平的最小可信称量限，满足质量法规对称量可靠性的要求。

5. 用户管理与数据合规性
User Management功能允许设定不同菜单访问权限；BalanceCheck提示外部砝码校正；输出符合GxP规范，实现完整的数据追溯链条。

6. 模块化通信扩展能力
标配RS232C接口，第二接口插槽可选配蓝牙、以太网、LocalCAN等模块，灵活对接打印机、计算机或其他实验室系统。

技术规格参数

注：DR = 变量程；DU = 双量程；sd = 标准偏差

应用领域/适用场景

适用领域：制药研发与质量控制、生物医学研究、化学分析、材料科学、食品检测、环境监测等需要高精度微量称量的实验室场景。

产品细节/结构说明

XP系列微量天平采用先进的ProFACT全自动校准技术，能够在温度变化或预设时间到达时自动启动内置砝码进行校准，同时完成线性校准程序，确保全天候精准称量。SmartSens红外传感器支持非接触式操作，包括开启防风罩、执行去皮和启动打印等功能，显著降低样品污染风险。

SmartScreen彩色触摸屏配备中文操作界面，支持8种可选称量界面布局，适配不同操作者偏好。SmartTrac图形显示器以彩色条形图实时显示称量过程与允差范围，帮助用户迅速判断是否符合设定公差。

防风罩设计分为马达驱动型（XP2U/XP6）和全拆卸型（XP26/XP56），均便于清洁维护。显示屏配有塑料保护罩，防止散落样品腐蚀屏幕。用户可通过User Management功能设置不同层级的操作权限，并利用BalanceCheck功能定期验证天平准确性。

通信方面，所有型号标配RS232C接口，部分型号提供额外插槽，可安装蓝牙、以太网、LocalCAN、MiniMettler、PS/2等模块，实现与打印机、PC或LIMS系统的无缝连接。e-Loader II软件支持在线固件升级，确保设备始终处于最新状态。