METTLER梅特勒 XS2002S 精密天平

产品概述

XS超越系列专业型精密天平是梅特勒-托利多推出的一款高性能称量设备，型号为XS2002S，属于高精度、高效率的实验室级精密天平。该仪器专为提升称量效率而设计，融合了先进的传感器技术与智能化操作功能，适用于对称量速度和准确性要求严苛的科研、制药、质量控制等应用场景。

本产品搭载高速单模块称量传感器（MonoBlocHighSpeed），确保快速稳定的称量响应，并具备优异的抗冲击与抗过载能力。配备触摸显示屏（Touch screen）和可选外置红外感应器（ErgoSens），实现无接触操作，显著提升使用便捷性。内置FACT全自动校准技术，可在温度漂移时自动触发内部校准，保障长期称量准确性。同时支持多种通信接口选件（RS232、LocalCan、BTS、PS/2、Ethernet和MiniMettler），便于连接打印机或计算机系统，满足现代化实验室的数据管理需求。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 高速单模块称量传感器（MonoBlocHighSpeed）：该传感器提供极快的信号响应速度，典型稳定时间为1.2秒，显著缩短等待时间，提高工作效率；同时具备良好的机械稳定性与抗干扰能力，适合频繁操作环境。

2. FACT全自动校准技术：当检测到温度变化超过设定阈值时，系统自动启动内部砝码校准流程，无需人工干预，有效消除因温漂引起的测量误差，保证全天候数据一致性。

3. 触摸式操作界面：直观的触摸显示屏简化菜单导航与参数设置过程，用户可轻松完成单位切换、模式选择和系统配置，降低操作门槛。

4. ErgoSens红外感应选件：通过手势控制实现去皮、清零等常用操作，避免直接接触天平表面，在无菌或污染敏感环境中尤为实用。

5. 多接口数据传输能力：内置RS232接口，并支持多达六种可选通信方式（LocalCan、BTS、PS/2、Ethernet、MiniMettler），灵活对接条码打印机、PC终端或LIMS系统。

6. 多样化内置应用程序：涵盖公式称量、计件称量、百分比分析、密度测定以及优化的动态称量功能，满足研发、质检、生产等多个环节的专业需求。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：生物医学研究、制药工业、化学分析、食品检测、材料科学、质量控制实验室等需要高精度称量的行业。

产品细节/结构说明

XS超越系列精密天平采用一体化金属机身设计，结构稳固，有效减少振动影响。其核心部件为高速单模块称量传感器（MonoBlocHighSpeed），集成于坚固外壳中，具备出色的抗冲击和抗过载性能。触摸显示屏位于正面中央，布局合理，视角清晰，配合简洁图标引导操作流程。

天平支持通过E-Loader软件进行固件升级，确保设备始终兼容最新功能与安全补丁。称量室空间宽敞，秤盘尺寸为170 x 205 mm，适合放置较大容器或样品。所有接口位于后部面板，布线整齐，便于集成至工作站系统。

在高级型号中还提供双量程（fine range）功能，如XS4002SDR具备主量程4.1 kg与精细量程0.8 kg，满足不同精度需求下的灵活切换。最小样品重量指标明确标注，帮助用户判断称量下限是否符合实验要求。