METTLER梅特勒 XPR20002LDR 精密天平

产品概述

Mettler Toledo 提供的这款精密天平具备高精度与快速响应特性，适用于实验室多种称量需求。产品支持双量程称量模式，最大秤量为 4.2 kg/20.1 kg，可读性达到 0.01 g; 0.1 g，确保在不同应用场景下均能实现精准测量。

该设备配备大尺寸秤盘（205 mm x 172 mm），提供充足的样品放置空间。内置自动校正系统 proFACT 高级版，保障长期使用中的测量稳定性。稳定时间仅需 1.5 s，显著提升实验效率，适合对重复性和线性误差有严苛要求的应用场景。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 双量程高精度称量
支持 4.2 kg 和 20.1 kg 两种最大秤量模式，配合 0.01 g 和 0.1 g 的可读性，适用于从微量到大量样品的精确称量任务，广泛用于分析化学、质量控制等领域。

2. 快速稳定的测量性能
设备在 1.5 秒内即可完成称量稳定，大幅提升工作效率。结合 60 mg 的线性误差（典型值）和 36 g 的最小称量值（USP，典型值），确保符合药典标准。

3. 自动校正技术（proFACT 高级版）
内置内部校正系统，可自动执行校准程序，减少人为干预，保障全天候测量一致性，特别适用于温湿度波动较大的实验环境。

4. 宽敞称量平台设计
秤盘外形尺寸为 205 mm x 172 mm，提供充足的操作空间，便于放置较大容器或多个样品，提升操作便利性。

5. 精确重复性保障
在典型条件下重复性为 18 mg; 60 mg，使用校验砝码时为 30 mg; 80 mg (10 kg)，确保多次测量结果高度一致，满足科研与工业检测的严格要求。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：实验室分析、质量控制、制药研发、食品检测、化工生产等需要高精度称量的行业。