常州幸运 FA205SEM-ION 半微量分析天平

产品概述

FA（SEM）系列 半微量分析天平 是一款高精度实验室称量设备，专为需要极高准确度的实验场景设计。该系列产品具备0.01毫克的超高精度，采用新型高度集成式电磁传感器，确保测量结果具有优异的重复性和稳定性。所有型号均支持自动内部校准，显著提升操作效率与数据可靠性。

配备大尺寸图形LCD显示屏和直观的操作界面，用户可轻松完成复杂称量任务。支持多国语言显示，适用于国际化实验室环境。其优化的人体工学设计、带三个滑动门的防风玻璃罩以及坚固的结构，使FA（SEM）系列在半微量称量领域表现出色，兼具高性能与高性价比。

功能特点详解

1. 电磁力恢复称重系统：利用高稳定性电磁力平衡原理实现精准称量，响应速度快，抗干扰能力强，确保每一次测量都高度可靠。

2. 高度集成称重传感器：新型传感器结构紧凑、性能稳定，有效减少环境因素对称量结果的影响，提高整体测量一致性。

3. 配方数据库功能：可储存多达99种配方，每种配方最多包含20种成分，适用于复杂配比实验或生产流程管理。

4. 多语言操作界面：支持六种国际常用语言切换，方便不同地区用户无障碍使用。

5. GLP/ISO数据记录：所有称量数据均可按规范格式存储并输出，符合质量管理体系要求，便于审计追踪。

6. 防静电设计选项：部分型号标配静电消除器，选配型号可加装ION-A15静电消除器，有效防止静电干扰影响微小质量测量。

技术规格参数

应用领域

适用领域：药物研发、化学分析、生物医学研究、质量控制、材料科学、环境检测、食品检验等需要高精度微量称量的实验室场景。

标准配置清单

使用与维护建议

为保证最佳性能，请将天平置于稳固、无振动的工作台面上，避免阳光直射和气流扰动。定期清洁防风罩内部及秤盘，使用柔软干布擦拭。保持环境温湿度在5–25℃、20–80%范围内，以确保称量精度。禁止在未关闭电源的情况下插拔外部设备。

选型指南