梅特勒-托利多 METTLER TOLEDO XPR系列 分析天平/电子天平

产品概述

梅特勒托利多XPR/XS分析天平是一款专为高效、精准称量设计的高端实验室仪器，适用于制药、食品、化工等多个行业。该系列产品分为XPR分析天平和XS分析天平两大系列，分别针对高精度质量管理与快速高效的日常称量需求，满足不同应用场景下的严苛要求。

XPR系列配备全面的质量管理工具（QM），符合GxP、USP及GMP/GLP等法规规范，特别适合对数据可追溯性和合规性要求极高的制药领域；而XS系列则通过创新选件优化操作流程，显著提升称量效率。两者均采用高分辨率后置式传感器、TFT彩色触摸屏或标准触摸屏操作界面，并支持自动校准、水平监控和多种通讯接口，确保每一次称量结果准确可靠。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 高精度称量系统
采用高精度高分辨率后置式传感器，有效减少环境干扰，提升称量重复性和稳定性，适用于微量至精密级别的样品称量任务。

2. 智能化操作界面
提供带中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或标准触摸屏(TouchScreen)，菜单清晰直观，操作简便，降低误操作风险。

3. 红外感应智能控制 (SmartSens)*
通过红外感应实现非接触式操作，如自动开关防风门、执行去皮、启动打印等功能，提高操作安全性与卫生等级。

4. 网格秤盘设计 (SmartGrid)
优化气流分布，加快稳定时间，获得更快更准确的称量结果，同时便于清洁维护。

5. 水平控制系统 (LevelControl)*
当设备偏离水平位置时，系统会及时发出警告提示，确保称量条件始终处于最佳状态。

6. 全自动校准技术
支持proFACT或FACT技术，根据温度变化或预设时间自动启动内置砝码校正程序，保证长期测量准确性。

7. 最小称量值提醒 (MinWeigh)
提供符合法规要求的称量辅助功能，防止低于最小称量限的操作（需由梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活）。

8. 天平校验功能 (BalanceCheck)*
定期提示用户使用外部砝码进行校正，确保称量结果持续准确可信。

9. 数据输出与合规性支持
支持符合GxP规范的数据输出，生成完整、可追溯的称量记录，适配审计追踪需求。

10. 安全防护设计
配备显示屏塑料保护罩，防止样品飞溅造成腐蚀，延长设备使用寿命。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：生物医学研究、临床诊断、制药工业、食品检测、环境监测、化工分析等需要高精度称量和法规合规性的行业。

典型应用场景：药品研发与质量控制、原料药称量、标准品配置、实验室常规分析、生产过程中的中间体检测等。

产品细节/结构说明

天平简介：
梅特勒托利多XPR/XS分析天平快速安全的满足所有称量需求。其中，XPR分析天平具有全面的质量管理工具(QM)，满足质量保证的要求，特别适合于例如制药行业的严格法规环境。而XS分析天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。

天平特点：
采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；
具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
红外感应器(SmartSens)^*，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等；
网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；
水平控制系统(LevelControl)^*，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能；
专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
最小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活)；
天平校验功能(BalanceCheck)^*，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确；
显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；
符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息；
GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作；
*仅XP天平

天平参数：
XPR分析天平：量程120g~520g，可读性0.01mg~0.1mg
XS分析天平：量程120g~220g，可读性0.01mg~0.1mg

天平应用:

梅特勒托利多XPR分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用，同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。而XS分析天平，则是食品化工行业，关注至高称量效率，易于清洁的理想选择。