上海仪电物光WJL-602激光粒度分析仪是一款专为湿法分散设计的高性能粒度测试设备。该仪器选用高品质气体激光光源，结合非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的光电探测系统，确保了信号探测的全面性与高灵敏度。
其核心优势在于全量程光路设计与自动对中系统，大幅提升了测量的分辨率与准确性。配备的超声分散系统能有效解离强团聚颗粒，还原真实粒度分布。配套PADMAS软件功能强大，支持微分、累积等多种分布模式及数据导出，是科研与工业质检的理想选择。
✓ 稳定激光光源：选用气体激光器，线宽窄、稳定性好，具备超长使用寿命，保障长期测试的一致性。
✓ 全面信号探测：独特的主辅检测器组合与三维扇形矩阵排列，无死角捕捉散射信号，提升测试精度。
✓ 智能光路系统：全量程会聚光路设计简化透镜组，配合自动对中技术，实现宽范围高分辨率测量。
✓ 高效超声分散：内置强力超声分散单元，即使面对超强团聚性样品也能充分分散，获取真实数据。
✓ 强大软件分析：PADMAS系统支持多种统计分布格式，提供丰富的特征参数与灵活的数据导出功能。
1. 高精度光电探测体系：仪器采用独特设计的光电探测系统，主检测器与多个辅助检测器协同工作。通过非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，充分保证了对散射光信号的全方位捕捉，显著提升了系统的灵敏度与动态范围。
2. 优化的全量程光路设计：光路系统经过专门优化，减少了傅立叶透镜组的数量，不仅使结构更紧凑，更实现了更宽的测量范围与更高的分辨率。自动对中系统进一步消除了人为操作误差，确保每次测量结果的准确可靠。
3. 强力超声分散技术：针对易团聚颗粒，WJL-602配备了高效的超声分散系统。该系统能对悬浮液中的样品进行充分分散，有效打破颗粒间的团聚力，从而获得反映样品真实状态的粒度分布数据。
4. 智能化PADMAS分析软件：配套软件功能全面，支持对测试数据进行平均、统计、比较和模式转换。用户可根据需求选择微分分布、累积分布、R-R分布、按目分级等多种显示格式，并支持自定义分级点。
5. 灵活的数据报告管理：测试报告自动生成，包含粒度分布图形及D10、D50、D90等关键特征参数。数据可保存为图片、EXCEL或PDF格式，便于与WORD文档交互使用，满足实验室数据归档与交流需求。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 测量范围 | 0.1-800微米 |
| 光源 | He-Ne激光，使用寿命>25000小时 |
| 波长 | 0．6328微米 |
| 分散方法 | 湿法分散 |
| 准确性误差 | 〈±0.5%(国家标准物质D50)〉 |
| 重复性偏差 | 〈±0.5%(国家标准物质D50)〉 |
| 检测角度 | 135度 |
| 工作电源 | AC220 V±10%，50 Hz，200W |
| 仪器尺寸 | 1000×330×320mm |
| 仪器净重 | 38kg |
适用领域：广泛应用于化工、材料、医药、食品、矿产、涂料、陶瓷、粉末冶金等行业。
典型用途：适用于各类粉体、乳液、悬浮液中颗粒粒度的精确测量与分析，特别适合于需要湿法分散处理的样品测试，如电池材料、药物制剂、颜料填料等。
标准配置：主机（含激光光源、探测阵列、超声分散单元）、PADMAS分析软件、数据连接线及操作手册。计算机需用户另行配置（建议i3处理器+8G内存及以上）。
工作原理：基于激光散射原理，当激光束穿过分散有颗粒的介质时，颗粒会产生散射光。散射光的角度与颗粒大小有关，强度与颗粒数量有关。探测器接收不同角度的散射光信号，经软件反演计算得出粒度分布。
操作提示：测试前请确保样品已充分制备并加入合适的分散剂；启动超声分散功能以消除团聚；定期清洁样品池与光路窗口，以保持最佳测试状态。
A：该仪器专为湿法分散设计，广泛应用于化工、材料、医药、食品、矿产、涂料、陶瓷、粉末冶金等行业。它特别适用于各类粉体、乳液、悬浮液中颗粒粒度的精确测量，如电池材料、药物制剂、颜料填料等需要湿法分散处理的样品。
A：该仪器的测量范围为0.1-800微米。其光源采用He-Ne激光，波长为0.6328微米，使用寿命大于25000小时，检测角度为135度，确保了信号探测的全面性与高灵敏度。
A：测试前需确保样品已充分制备并加入合适的分散剂。将样品加入后，启动仪器内置的超声分散系统以有效解离强团聚颗粒，还原真实粒度分布。配合PADMAS软件，系统会自动进行光路对中并反演计算，最终生成包含D10、D50、D90等关键参数的测试报告。
A：为了保持最佳测试状态，用户应定期清洁样品池与光路窗口，防止残留物影响散射光信号的接收。此外，由于仪器采用He-Ne激光光源，虽寿命长达25000小时以上，但仍需注意避免剧烈震动，并确保工作电源符合AC220 V±10%，50 Hz的要求。
A：WJL-602具有高精度和高稳定性，其准确性误差小于±0.5%（基于国家标准物质D50），重复性偏差也小于±0.5%（基于国家标准物质D50）。这得益于其全量程光路设计、自动对中系统以及非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的光电探测系统。
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