精新 JX-2000B 颗粒图像分析仪

产品概述

JX-2000B型颗粒图像分析仪是一款专用于提供更准确、直观粒度形貌信息的精密仪器。该系统结合光学显微镜与USB摄像头，通过图像采集和专有软件分析，实现对粉体及固体材料的全面形貌与粒度分布检测。

仪器可获取颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据，并生成D10、D50、D90、D97、平均粒径及表面积等粒度分布图表。测试结果可在电脑上实时显示、保存，并支持打印颗粒形貌图片与数据报告。最大光学放大倍数达1600倍，图像打印最大倍数可达4000倍（A4幅面），最大分辨率为0.1μm，采用全平场消色差物镜，确保成像清晰精准。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 图像采集与传输
样品经光学显微镜放大后，由USB摄像头实时捕捉颗粒形貌图像，并传输至电脑端进行可视化观察与后续分析，确保原始图像真实可靠。

2. 智能图像分析
通过专有软件自动识别并计算颗粒的几何参数，包括面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等，提升分析效率与准确性。

3. 粒度分布统计
系统可生成D10、D50、D90、D97、平均粒径及比表面积等统计图表，全面反映样品的粒度分布特征。

4. 数据管理与输出
测试结果可直接在电脑上显示、保存，并支持打印颗粒形貌图像与粒度分布图表，满足科研与生产记录需求。

5. 行业定制化适配
软件可根据不同行业特殊要求（如磨料、硅灰石等）进行定制开发，增强适用性与专业性。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：粉体材料：金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉；固体材料：陶瓷片表面晶体结构，金属、合金表面晶形结构，其它不透光物体表面晶体结构；用于验证其他粒度测试的手段和方法。

产品细节/结构说明

系统组成：光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。

工作流程：样品经显微镜放大成像 → 摄像头摄取颗粒形貌图像 → 传输到电脑 → 在电脑上直接观察粉体颗粒的形貌 → 通过专有软件计算分析 → 得到颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像 → 提供D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等数据分布图表 → 显示保存测试结果 → 打印粒度分布数据及颗粒形貌图片。