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精新 JX-2000B 颗粒图像分析仪 测试范围:0.5~3000μm
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精新 JX-2000B 颗粒图像分析仪 测试范围:0.5~3000μm
市场价: ¥10元 / 台
品 牌: 精新
型 号: JX-2000B
测试范围:0.5~3000μm
最大放大倍数:4000倍
发货周期:现货 发货时间说明>
  • 产品信息
产品介绍
JX-2000B型颗粒图像分析仪是一款能够提供更准确直观粒度形貌的精密仪器。通过光学显微镜和USB摄像头结合,将颗粒形貌图像传输到电脑并通过专有软件进行分析,得到颗粒个数、面积、周长、直径、体积等分布数据,以及D10、D50、D90等粒度数据分布图表,显示保存测试结果并打印图表。适用于粉体材料、固体材料的表面晶体结构分析,可根据行业特殊要求设计专用软件,具备最大放大倍数4000倍、最大分辨率0.1μm、支持多种格式的测试报告输出等特点。

产品简介

因为粉体形态各异,在借助激光粒度仪测试的同时,选用JX-2000B型图像分析仪,从而能达到更准确直观粒度形貌,控制分析好产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。

图像分析的主要过程是:样品经显微镜放大成像,摄像头摄得颗粒形貌图像传输到电脑,在电脑上直接观察粉体颗粒的形貌,通过专有软件计算分析,得到颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像。同时提供D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等数据分布图表。由电脑显示保存测试结果,也可打印粒度分布数据及颗粒形貌图片。  

适用领域  

1、 粉体材料:金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉。

2、 固体材料:陶瓷片表面晶体结构,金属、合金表面晶形结构,其它不透光物体表面晶体结构。

3、 用于验证其他粒度测试的手段和方法。

仪器特点  

软件功能强大,可根据行业特殊要求,设计磨料、硅灰石等专用软件。采用全平场消色差物镜,最大分辨率0.07微米,最大光学放大倍数1600倍,图像打印最大倍数4000倍(A4幅面打印纸) 还可根据需要输出多种格式的测试报告。

产品参数
测试范围
0.5~3000μm
最大放大倍数
4000倍
最大分辨率
0.1μm
数字摄像头(CCD)
300万像素
显微镜
配置透反射显微镜(带有金相功能)
标尺刻度
10μm
分析项目
粒度分布、长径比分布、圆形度分布等
软件运行环境
Windows XP
接口方式
USB方式
型号
JX-2000B
售后服务
下单流程
信息确认
签订合同
支付货款
仓库发货
到货签收
安装指导
验收交付
开具发票

1、首先客户需要确认产品品牌、产品型号、产品货号、产品规格、参数、货期等;

2、其次确认产品旳使用须知,买卖双方信息相互,确认收货和收票地址;

3、科研仪器设备属于精密仪器,非产品质量问题本公司不做退换货处理,购买时请再三确认;

4、小型仪器退换货要求确保仪器未拆箱、未通电、未使用、附件包装完好无损不影响二次销售,联系客服人员处理退换货事宜;

5、退换货要求产品外包装套纸箱,禁止无包装发货,拒收到付;

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