精新 JX-2000A 颗粒图像分析仪

产品概述

JX-2000A型颗粒图像分析仪是一款专为粉体材料等多领域设计的高性能图像分析设备，适用于对颗粒形貌与粒度分布进行精确、直观的观测与分析。该仪器结合工业级高速摄像头与光学显微镜，实现颗粒图像的快速采集与传输，并通过专用软件完成全面的数据处理，广泛应用于科研、生产质量控制等领域。

系统由光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑及打印机等组成，支持颗粒个数、形状参数、粒度分布等多种数据输出，提供D10、D50、D90、平均粒径等关键指标图表。具备强大的图像处理能力，支持多种格式测试报告导出，并可根据特殊需求定制专用软件，如用于磨料、硅灰石等行业应用。同时提供JX-2000A和JX-2000B两种型号，分别配置透射显微镜和透反射显微镜，满足不同样品（包括不透光物体）的表面晶形观察需求。

功能特点详解

1. 高速图像采集与实时显示：工业级摄像头配合光学显微镜，实现颗粒图像的高速采集与即时传输至电脑，用户可在屏幕上直接观察粉体颗粒的形貌特征，提升分析效率。

2. 全面的颗粒数据分析：软件可计算颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等参数，并生成D10、D50、D90、平均粒径、表面积等分布图表，满足多样化研究需求。

4. 灵活的测量单位选择：支持微米、毫米、厘米、英吋等多种测量单位切换，适应不同应用场景下的标定与报告输出要求。

5. 双型号适配多样样品：JX-2000A型配置透射显微镜，适合透明或半透明粉体分析；JX-2000B型配置透反射显微镜，扩展至陶瓷、金属等不透光物体表面晶形观察，应用更广泛。

6. 可定制化软件服务：可根据特定行业需求（如磨料、硅灰石等）开发专用分析软件模块，提升专业领域的适用性与分析深度。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：生物医学研究、制药工业、食品检测、环境监测、新材料研发、地质矿物分析等。

典型应用材料：金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉。

辅助验证用途：可用于验证激光粒度仪等其他粒度测试方法的准确性，提供直观形貌依据。

产品细节/结构说明

系统构成：
光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。

图像分析流程：
样品经显微镜放大成像 → 摄像头获取颗粒图像并传输至电脑 → 在电脑上直接观察颗粒形貌 → 通过专有软件进行计算分析 → 输出颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像 → 显示、保存或打印测试结果。

图像分析处理功能：
- 色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
- 图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针）、90度（顺时针）、旋转、放大、缩小任意比例缩放等；
- 测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
- 图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
- 图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能。

型号说明：
- JX-2000A型颗粒图像分析仪：配置透射显微镜。
- JX-2000B型颗粒图像分析仪：配置透反射显微镜，可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。

输出功能：
颗粒形貌图像可存盘和打印，测试结果可输出多种格式的测试报告。可根据粉体特殊性设计专用软件，例如磨料、硅灰石等领域。