产品简介

因为粉体形态各异，在借助激光粒度仪测试的同时，选用JX-2000A型图像分析仪，从而能达到更准确直观粒度形貌，控制分析好产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。

图像分析的主要过程是：样品经显微镜放大成像，摄像头摄得颗粒形貌图像传输到电脑，在电脑上直接观察粉体颗粒的形貌，通过专有软件计算分析，得到颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像。同时提供D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等数据分布图表。由电脑显示保存测试结果，也可打印粒度分布数据及颗粒形貌图片。  

适用领域  

• 粉体材料：金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉。
• 用于验证其他粒度测试的手段和方法。

性能特点 

1. 工业级摄像头高速采集颗粒，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用分析软件进行颗粒数据处理。
2. 测量范围：0.5μm～3000μm
3. 接口方式：USB连接。
   
4. 平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
5. 等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
6. 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，测试结果真实可靠。
7. 仪器分二种型号，技术原理、参数均相同，JX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜，JX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。
8. 颗粒形貌图像可存盘和打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据粉体特殊性设计专用软件，比如：磨料、硅灰石等。

图像分析处理功能 

• 色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
  
• 图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小任意比例缩放等；
• 测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
• 图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
• 图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；