上海仪电物光智能颗粒图像分析仪WKL-708 是一款集光学显微技术与现代数字图像处理于一体的颗粒形貌分析仪器。该设备由光学显微镜、500万像素数字CCD摄像机及专用颗粒图像处理分析软件组成，通过高精度成像系统将颗粒图像实时传输至内置一体机进行智能分析，适用于对颗粒粒径、形状、分布等参数的精确测量。
本仪器采用图像法实现颗粒分析，具备直观、准确、测量范围宽等优势，支持多种图像处理功能和几何参数测量，可自动生成线性或非线性统计分布图，广泛应用于材料科学、化工、制药、环境监测等领域中的颗粒表征研究。
✓ 图像处理功能丰富：支持影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度调节、自动分割等几十种处理方式，提升分析精度。
✓ 多参数几何测量：可测量圆度、曲线、周长、面积、直径等数十种几何参数，全面反映颗粒形貌特征。
✓ 高效智能分析：自动分割速度≤1秒，配备自带操作系统与128G固态硬盘一体机，数据处理快速稳定。
1. 先进的图像采集与传输系统
集成500万像素数字CCD摄像机，配合光学显微镜实现高清晰度图像捕捉，并通过USB/网线/无线网接口将图像实时传输至内置一体机，确保数据高效同步。
2. 强大的图像处理能力
提供影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、亮度与对比度调节、颗粒定位及自动分割等多种图像处理方法，满足复杂颗粒图像的精细化分析需求。
3. 精确的几何参数测量
支持圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种基本几何参数测量，为颗粒形貌提供多维度量化依据。
4. 智能化数据统计与可视化输出
可根据颗粒粒径的面积、形状等参数，以线性或非线性方式绘制粒径分布图，便于结果解读与报告生成。
| 仪器型号 | WKL-708 |
| 测量范围 | 0.1～3000（微米） |
| 总放大倍数 | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重复性 | 误差≤±1％ |
| 自动分割速度 | ≤1秒 |
| 数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
| 数据储存 | 一体机（128G固态硬盘，15寸显示器） |
| 通信接口 | USB/网线/无线网 |
| 操作系统 | 自带 |
| 电源 | AC220V ±10％， 50 Hz， 200 W |
| 仪器尺寸 | 625mm×420mm×435mm |
| 仪器净重 | 25kg |
适用领域：材料科学、化学工程、生物制药、环境监测、食品工业、地质研究等需要颗粒形貌与粒径分布分析的科研与生产场景。
系统由三大部分构成：
• 光学显微镜
• 数字CCD摄像机（500万像素）
• 颗粒图像处理分析软件（运行于自带操作系统的一体机上）
图像通过专用数字摄像机采集并传输至电脑，利用专用软件完成图像分析处理，全过程自动化程度高，操作便捷。
A：测量范围为0.1～3000（微米）。
A：是的，配置为一体机，包含128G固态硬盘和15寸显示器，自带操作系统。
A：自动分割速度≤1秒，显著提高分析效率。
A：支持USB、网线和无线网三种通信接口，方便数据传输与网络连接。
A：重复性误差≤±1％，保证多次测量结果的一致性和可靠性。
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