上海仪电物光颗粒图像分析仪WKL-702 是一款集光学显微技术与数字图像处理于一体的颗粒形貌分析仪器。该设备通过将传统显微测量方法与现代图像技术相结合，实现对颗粒粒径、形状及分布的高精度分析，广泛适用于材料科学、化工、制药、环境监测等领域。
本仪器由光学显微镜、500万像素数字CCD摄像机和专用颗粒图像处理分析软件组成，支持图像增强、叠加、局部提取、定倍放大、对比度调节、颗粒定位与自动分割等多种图像处理功能。系统具备测量范围宽、重复性好、操作直观等优势，可准确获取颗粒的圆度、周长、面积、直径等几十种几何参数，并支持多种统计方式生成分布图。
✓ 高精度成像系统：配备500万像素数字CCD摄像机，最大分辨率可达0.1微米/像素，确保图像清晰、细节丰富。
✓ 宽范围测量能力：测量范围为0.1～3000微米，满足多种颗粒样品的分析需求。
✓ 快速自动分割技术：自动分割速度≤1秒，大幅提升分析效率。
✓ 多参数综合分析：支持圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数测量，提供全面的颗粒形貌信息。
✓ 灵活的数据输出方式：可按粒径面积、形状等参数以线性或非线性方式绘制分布图，便于数据解读。
1. 多种图像处理方法
支持影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度与亮度调节、颗粒定位、自动分割等数十种图像处理功能，提升图像质量与分析准确性。
2. 全面的几何参数测量
可测量颗粒的圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种基本几何参数，满足复杂形貌分析需求。
3. 智能分布图绘制
可根据颗粒粒径的面积、形状等参数，采用线性或非线性统计方式自动生成粒径分布图，直观展示数据规律。
4. 高效图像传输与处理
通过USB接口连接电脑，专用软件实时接收并处理来自CCD摄像机的图像数据，确保流畅操作体验。
| 仪器型号 | WKL-702 |
| 测量范围 | 0.1～3000（微米） |
| 总放大倍数 | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重复性 | 误差≤±1％ |
| 自动分割速度 | ≤1秒 |
| 数字摄像机(CCD) | 500万像素 |
| 数据储存 | 电脑需另配（i5+8G内存+纯固态硬盘或双硬盘以上配置） |
| 通信接口 | USB |
| 操作系统 | Windows 98/XP/7/8/10/11系统均可 |
| 电源 | AC220V ±10％，50 Hz， 200 W |
| 仪器尺寸 | 270mm×410mm×440mm |
| 仪器净重 | 15kg |
适用领域：材料科学、化学工业、生物制药、环境监测、食品检测、地质研究等需要颗粒形貌与粒径分析的科研与生产场景。
本仪器由以下核心组件构成：
• 光学显微镜
• 数字CCD摄像机（500万像素）
• 颗粒图像处理分析软件
• USB通信接口模块
工作原理：通过光学显微镜对样品进行放大成像，由CCD摄像机采集图像并传输至电脑，利用专用软件完成图像增强、颗粒定位、自动分割及几何参数计算，最终生成粒径分布图表。
注：数据储存依赖外部电脑，推荐配置为i5处理器、8G内存、纯固态硬盘或双硬盘以上。
A：测量范围为0.1～3000（微米）。
A：自动分割速度≤1秒。
A：配备500万像素数字CCD摄像机。
A：数据储存需依赖另配电脑，推荐配置为i5+8G内存+纯固态硬盘或双硬盘以上。
A：支持Windows 98/XP/7/8/10/11系统均可运行。
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