仪电（物光）WKL-708 粒度分析仪

产品概述

本产品将传统显微测量方法与现代图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的专业仪器。系统主要由高精度光学显微镜、高像素数字 CCD 摄像机和专用的颗粒图像处理分析软件组成。

该系统通过专用的数字摄像机将微观图像实时传输至计算机，利用先进的颗粒图像处理分析软件对图像进行深度处理与分析。整体设计具有直观可视、形像逼真、测量范围宽广等核心优势，能够满足科研与工业领域对微小颗粒形态及粒径分布的精确检测需求。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 多样化的图像处理方法：系统提供影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度与亮度调节、颗粒定位及自动分割等几十种功能，能够适应不同样品的成像需求，显著提升图像质量与分析效率。

2. 全面的几何参数测量：具备强大的测量引擎，可直接对颗粒的圆度、曲线特征、周长、投影面积、等效直径等几十种几何参数进行基本测量，为颗粒形貌研究提供详实数据支持。

3. 智能统计分析绘图：软件支持直接按颗粒粒径、粒径面积、形状等多类参数进行分类统计，并能以线性或非线性统计方式自动绘制分布图，直观展示样品颗粒的分布规律。

4. 高清数字成像系统：搭载高像素数字摄像机，配合高倍率光学镜头，能够捕捉清晰的微观颗粒图像，最大分辨率极高，确保微小细节不被遗漏，为后续分析提供高质量源图。

5. 灵活的配置与兼容性：提供多种配置方案以适应不同实验室环境，支持主流操作系统，通信接口多样，既可连接独立高性能电脑，也可选择集成化一体机方案，操作便捷。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：广泛应用于材料科学、化工、医药、食品、地质、环保等行业的微观颗粒检测与研究。

典型用途：适用于粉末冶金、电池材料、陶瓷粉体、药物微粒、土壤颗粒等的形貌观察、粒径分布分析及质量控制环节。

产品细节/结构说明

标准配置：主机包含高精度光学显微镜主体、500 万像素数字 CCD 摄像机、专用颗粒图像处理分析软件；根据型号不同，可配独立电脑或一体化工作站（含显示器与存储单元）。

工作原理：样品置于显微镜载物台，光源透过或反射照亮颗粒，光学系统将图像放大并投射至 CCD 传感器，传感器将光信号转换为数字信号传输至计算机，软件通过算法识别颗粒边缘并计算各项几何参数。

操作提示：使用前请确保电源连接稳定，根据样品特性选择合适的放大倍数与光照强度；定期清洁光学镜头以保持成像清晰度；软件操作时建议先进行标准样品校准以确保测量精度。