A：该仪器将传统显微测量方法与现代图像技术相结合，专门用于颗粒形貌分析和颗粒测量。它广泛应用于材料科学、化工、医药、食品等行业，可对电池材料、陶瓷粉末、药物微粒等样品进行微观观察，一次性测量圆度、周长、面积、直径等几十种几何参数，并自动生成粒度分布图。
A：WKL-702 的测量范围为 0.1～3000 微米，总放大倍数高达 8000 倍，最大分辨率为 0.1 微米/像素。其配备 500 万像素数字摄像机 (CCD)，自动分割速度≤1 秒，重复性误差≤±1％，确保了微小颗粒细节的清晰捕捉和数据的高度一致性。
A：使用时需将样品置于显微镜载物台上，通过 USB 通信接口将主机连接至电脑（需用户自配，推荐 i5+8G 内存 + 纯固态硬盘以上配置）。利用专用软件控制光学系统成像，软件会自动进行影像增强、颗粒定位与分割，随后计算几何参数并绘制线性或非线性统计分布图，支持 Windows 98 至 Windows 11 等多种操作系统。
A：使用前请确保显微镜光路清洁，样品制备应均匀分散以避免颗粒重叠影响分割精度。建议定期校准系统以保证测量数据的准确性。此外，设备需在稳定的电源环境下运行，其电源要求为 AC220V ±10％，50 Hz，功率 200W。
A：仪器尺寸为 270mm×410mm×440mm，净重 15kg。标准配置包含高精度光学显微镜主体、500 万像素数字 CCD 摄像机、专用颗粒图像处理分析软件、USB 通信线缆及电源适配器。请注意，电脑需根据推荐配置自行配备，不在主机标配范围内。
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