仪电（物光）WKL-702 粒度分析仪

产品概述

本产品将传统显微测量方法与现代图像技术相结合，是一款采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的专业仪器。系统由光学显微镜、数字 CCD 摄像机和颗粒图像处理分析软件组成，通过专用硬件将图像传输至电脑，利用专业软件进行深度处理。

该设备具备直观、形象、测量范围宽等显著特点，能够高效完成从图像采集到数据统计的全流程工作，是实验室进行微观颗粒研究的理想工具。

产品亮点/核心优势

功能特点详解

1. 多样化图像处理方法：软件提供影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度及亮度调节等几十种功能。支持颗粒定位与自动分割，能够适应不同对比度和复杂背景的样品图像，确保分析准确性。

2. 全面的几何参数测量：系统具备强大的计算能力，可直接测量圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种基本几何参数。用户可根据研究需求选择特定参数进行定量分析，获取详尽的颗粒形态数据。

3. 智能统计与分布绘图：可直接依据颗粒粒径、面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。直观的图表展示帮助用户快速掌握样品的粒度分布规律，便于撰写分析报告。

4. 高精度光学系统：配备高总放大倍数的光学系统与高分辨率传感器，能够清晰捕捉微小颗粒的细节。优秀的重复性表现确保了多次测量结果的一致性，为科研数据提供可靠支撑。

5. 便捷的数据交互：采用标准通信接口与电脑连接，数据传输稳定快速。软件界面友好，操作流程符合人体工程学设计，降低了用户的学习成本，提升了日常检测工作的流畅度。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：广泛应用于材料科学、化工、医药、食品、地质、环保等行业，特别适用于需要对粉末、悬浮液等样品进行微观形貌观察和粒度分布研究的实验室。

典型用途：用于电池材料、陶瓷粉末、催化剂、药物微粒、土壤颗粒等的粒度分析与形貌表征，帮助科研人员优化生产工艺，控制产品质量。

产品细节/结构说明

标准配置：主机包含高精度光学显微镜主体、500 万像素数字 CCD 摄像机、专用颗粒图像处理分析软件（光盘/U 盘）、USB 通信线缆、电源适配器及基础操作配件。注意：电脑需用户根据推荐配置自行配备。

工作原理：样品置于显微镜载物台上，通过光学系统放大成像，CCD 摄像机将光信号转换为数字信号传输至计算机。软件对数字图像进行预处理、边缘检测、颗粒分割，进而计算各项几何参数并统计分布。

操作提示：使用前请确保显微镜光路清洁，样品制备应均匀分散以避免颗粒重叠影响分割精度。建议定期校准系统以保证测量数据的准确性，并在稳定的电源环境下运行设备。