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仪电(物光)WKL-702 图像法粒度分析仪

仪电(物光)WKL-702 图像法粒度分析仪

市场价:¥55000元 / 台 +加入询单篮
品 牌:上海仪电物光
型 号:
产品描述:产品概述WKL-702 图像法粒度分析仪将传统显微测量方法与现代先进的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的专业仪器。该系统由高倍率光学显微镜、高清晰度数字 CCD 摄像机和专业
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  • 产品信息

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产品名称
仪电(物光)WKL-702 图像法粒度分析仪
所属分类
其他实验仪器
品牌
上海仪电物光
型号
市场价
¥55000元
发货周期
现货
简要说明
产品概述WKL-702 图像法粒度分析仪将传统显微测量方法与现代先进的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的专业仪器。该系统由高倍率光学显微镜、高清晰度数字 CCD 摄像机和专业

产品介绍

产品概述

WKL-702 图像法粒度分析仪将传统显微测量方法与现代先进的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的专业仪器。该系统由高倍率光学显微镜、高清晰度数字 CCD 摄像机和专业的颗粒图像处理分析软件组成,实现了从图像采集到数据分析的全流程自动化。

系统通过专用的数字摄像机将微观图像实时传输至计算机,利用强大的图像处理算法对颗粒进行识别与测量。其具备直观可视形像逼真测量范围宽等显著特点,能够真实还原颗粒的微观形态,为科研与生产提供可靠的形貌数据支持。

产品亮点/核心优势

✓ 显微成像融合:完美结合光学显微技术与数字图像处理,实现颗粒形态的可视化精准测量。

✓ 智能图像增强:内置多种影像处理功能,支持亮度对比度调节及局部提取,确保复杂背景下的清晰成像。

✓ 全自动分割技术:具备高效的自动分割算法,可快速定位并分离粘连颗粒,大幅提升分析效率。

✓ 多维参数统计:支持圆度、周长、面积等几十种几何参数的同步测量,提供全面的形貌数据。

✓ 灵活分布绘图:可根据粒径、面积、形状等多类参数,以线性或非线性方式自动生成统计分布图。

功能特点详解

1. 多样化图像处理方法:系统提供影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大以及对比度和亮度调节等几十种功能。用户可根据样品特性灵活调整,优化图像质量,确保微小颗粒的清晰捕捉与准确识别。

2. 全面的几何参数测量:具备强大的测量引擎,可直接获取颗粒的圆度、曲线特征、周长、面积、直径等几十种基本几何参数。这些数据能够全方位描述颗粒的物理形态,满足精细化的分析需求。

3. 高效的自动分割与定位:内置智能算法支持颗粒的快速定位与自动分割,能在极短时间内完成复杂图像的处理。该功能有效解决了传统人工测量效率低、主观误差大的问题,保证数据的一致性。

4. 灵活的统计分布绘图:软件支持直接按颗粒粒径、面积、形状等多类参数进行统计分析。用户可选择线性或非线性统计方式,一键生成直观的分布图表,便于观察颗粒群体的分布规律。

5. 专业的数据管理与输出:系统配备完善的数据存储与管理功能,支持测试结果的保存、导出及报告生成。配合高性能计算机配置,确保大量图像数据处理过程中的流畅性与稳定性。

技术规格参数

项目参数
仪器型号WKL-702
测量范围0.1~3000(微米)
总放大倍数8000 倍
最大分辨率0.1 微米/像素
重复性误差≤±1%
自动分割速度≤1 秒
数字摄像机 (CCD)500 万像素
通信接口USB
电源AC220V ±10%,50 Hz,200W
仪器尺寸270mm×410mm×440mm
仪器净重15kg

应用领域/适用场景

适用领域:广泛应用于磨料磨具、陶瓷粉末、金属粉末、医药粉体、化工颜料、土壤沉积物、食品颗粒及新材料研发等领域。

典型用途:适用于需要同时关注颗粒粒径大小与微观形貌特征的检测场景,如异形颗粒分析、团聚体解聚评估、晶体生长监测及产品质量控制中的形貌一致性检验。

产品细节/结构说明

标准配置:主机包含高精度光学显微镜主体、500 万像素数字 CCD 摄像机、专用图像采集卡及颗粒图像处理分析软件。注:电脑需另配(建议 i5 处理器 +8G 内存 + 纯固态硬盘或双硬盘以上配置)以确保软件流畅运行。

工作原理:样品置于显微镜载物台上,通过光学系统放大成像,CCD 摄像机将光信号转换为数字信号传输至计算机。软件对数字图像进行灰度处理、边缘检测及自动分割,计算每个颗粒的几何参数并统计分布。

操作提示:使用前请确保样品分散均匀,避免颗粒重叠影响分割精度;根据颗粒大小选择合适的物镜倍率;定期清洁光学镜头以保持成像清晰度;软件操作时可根据图像质量手动微调阈值以优化分割效果。

产品参数

电源
AC220V ±10%,50 Hz,200W
重复性
误差≤±1%
仪器净重
15kg
仪器型号
WKL-702
仪器尺寸
270mm×410mm×440mm
测量范围
0.1~3000(微米)
通信接口
USB
总放大倍数
8000 倍
最大分辨率
0.1 微米/像素
自动分割速度
≤1 秒
数字摄像机 (CCD)
500 万像素
型号

常见问题

Q:仪电(物光)WKL-702 图像法粒度分析仪的主要用途和适用领域有哪些?

A:该仪器将传统显微测量与现代图像技术结合,用于颗粒形貌分析和颗粒测量。它广泛应用于磨料磨具、陶瓷粉末、金属粉末、医药粉体、化工颜料、土壤沉积物、食品颗粒及新材料研发等领域,特别适用于需要同时关注颗粒粒径大小与微观形貌特征(如异形颗粒分析、团聚体解聚评估)的检测场景。

Q:这款仪器的核心测量参数和性能指标是多少?

A:WKL-702 的测量范围为 0.1~3000 微米,总放大倍数可达 8000 倍,最大分辨率为 0.1 微米/像素。其测量重复性误差≤±1%,自动分割速度≤1 秒。仪器配备 500 万像素数字摄像机 (CCD),通过 USB 接口通信,确保数据的高效采集与传输。

Q:如何使用 WKL-702 进行样品测试,对电脑配置有什么要求?

A:使用时将样品置于显微镜载物台上,通过光学系统放大成像,由 CCD 摄像机传输至计算机,利用软件进行自动分割和参数统计。操作前需确保样品分散均匀并根据颗粒大小选择合适物镜。注意:电脑需另配,建议配置为 i5 处理器、8G 内存及纯固态硬盘或双硬盘以上,以确保图像处理软件流畅运行。

Q:日常使用中如何进行仪器的维护与保养?

A:为保持成像清晰度,需定期清洁光学镜头。在软件操作时,可根据图像质量手动微调阈值以优化分割效果。此外,使用前应确保样品分散均匀以避免颗粒重叠影响精度。仪器净重 15kg,尺寸为 270mm×410mm×440mm,移动或放置时应注意平稳,避免震动影响光学系统。

Q:该仪器的电源规格及售后相关的技术参数是什么?

A:仪器电源规格为 AC220V ±10%,50 Hz,功率 200W。在技术性能方面,它支持圆度、周长、面积等几十种几何参数的同步测量,并能自动生成线性或非线性统计分布图。若涉及设备故障排查,可依据其 500 万像素 CCD 及 USB 通信接口等硬件参数进行初步检测。

售后服务

下单流程
信息确认
信息确认
签订合同
签订合同
支付货款
支付货款
仓库发货
仓库发货
到货签收
到货签收
安装指导
安装指导
验收交付
验收交付
开具发票
开具发票

1、首先客户需要确认产品品牌、产品型号、产品货号、产品规格、参数、货期等;

2、其次确认产品旳使用须知,买卖双方信息相互,确认收货和收票地址;

3、科研仪器设备属于精密仪器,非产品质量问题本公司不做退换货处理,购买时请再三确认;

4、小型仪器退换货要求确保仪器未拆箱、未通电、未使用、附件包装完好无损不影响二次销售,联系客服人员处理退换货事宜;

5、退换货要求产品外包装套纸箱,禁止无包装发货,拒收到付;

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