JDG-S2数字式立式光学计是一种基于比较法原理五等量块、量棒、钢球以及线形和平行平面状精密量具和零件的外形尺寸检测,能够满足严苛的计量需求。
除了传统的立式测量模式,本仪器的光学计头部可拆卸作为独立单元使用,极大地拓展了应用场景。在科研实验、生产过程控制及在线测量环节中,它不仅能对被测件进行微小位移测量,还广泛适用于薄膜、纸张等非金属材料厚度的精密检测,兼具灵活性与专业性。
✓ 高精度数字显示:采用先进的数字读数系统,消除人为视差,确保测量结果直观、准确且易于记录。
✓ 模块化独立头设计:光学计头部可分离独立使用,灵活适应科研、在线检测及特殊工况下的微小位移测量需求。
✓ 广泛的适用性:不仅适用于金属量具,还能胜任薄膜、纸张等非金属材料厚度的精密测量,应用范围广泛。
✓ 稳定的测量性能:具备优异的示值稳定性与低测量误差,确保在长时间工作或不同环境下的数据可靠性。
✓ 人性化操作体验:结构紧凑,测量力可控,配合清晰的数字界面,简化操作流程,提升检测效率。
1. 比较法精密测量:基于经典的光学杠杆放大原理,通过标准器比对实现工件尺寸的高精度测量,特别适用于量块、量棒等标准件的检定与校准工作。
2. 数字化读数系统:摒弃传统目镜估读方式,采用高分辨率数字显示技术,直接呈现测量数值,显著降低操作难度并提高读数的一致性与准确性。
3. 独立头多功能应用:仪器头部设计为可独立使用的模块,可安装于专用支架或集成到自动化系统中,用于微小位移监测或非接触式厚度测量,满足多样化科研与生产需求。
4. 恒定测量力控制:内置精密测力机构,提供稳定且柔和的测量力,有效避免因接触压力过大导致软质材料(如纸张、薄膜)变形或硬质零件表面损伤,保证测量真实性。
5. 紧凑型结构设计:整体结构稳固且体积小巧,底座与立柱经过优化设计,既保证了测量过程中的刚性,又节省了实验室或生产线空间,便于移动与部署。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 被测件最大长度 | 200mm |
| 直接测量范围 | 10mm |
| 最小显示值 | 0.1μm |
| 测量力 | (2±0.2)N |
| 示值变动性 | 0.1μm |
| 最大不准确度 | ±0.25μm |
| 读数方式 | 数字显示 |
| 最大测量误差 | ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 |
| 仪器体积 | 300×170×410mm |
| 仪器重量 | 18 kgs |
适用领域:计量检定机构、精密机械制造、科研院所、质量检测中心。
典型用途:五等量块与量棒的长度校准、钢球直径检测、平行平面零件厚度测量、薄膜与纸张等非金属材料厚度精密测试、科研实验中的微小位移监测。
标准配置:主机底座与立柱、可拆卸数字光学计头部、测杆组件、电源适配器及基础附件。
工作原理:利用光学杠杆放大原理,将测杆的微小直线位移转换为光路变化,并通过光电传感器转换为电信号,最终由数字电路处理并在显示屏上直接读出数值,实现高精度比较测量。
操作提示:使用前需预热仪器并进行零位校准;测量时应确保被测件表面清洁无灰尘;使用独立头模式时,需确保安装支架稳固,避免振动影响测量精度。
A:该仪器基于比较法原理,主要用于五等量块、量棒、钢球以及线形和平行平面状精密量具和零件的外形尺寸检测。此外,其光学计头部可拆卸作为独立单元使用,广泛适用于薄膜、纸张等非金属材料厚度的精密检测,以及科研实验中的微小位移测量。
A:JDG-S2 的最小显示值为 0.1μm,示值变动性为 0.1μm,最大不准确度为 ±0.25μm。其最大测量误差计算公式为 ±(0.5+L/100)μm(其中 L 为被测长度,单位 mm)。直接测量范围为 10mm,被测件最大长度为 200mm。
A:该仪器内置精密测力机构,提供稳定且柔和的接触压力,其标准测量力为 (2±0.2)N。这种恒定的测量力控制能有效避免软质材料(如纸张、薄膜)变形或硬质零件表面损伤,保证测量结果的真实性。
A:使用前需预热仪器并进行零位校准;测量时应确保被测件表面清洁无灰尘,以防影响精度。若使用独立头模式,需确保安装支架稳固,避免振动干扰。仪器体积为 300×170×410mm,重量 18 kgs,存放时应置于干燥、无腐蚀性气体的环境中。
A:彼爱姆品牌提供专业的售后服务支持。鉴于 JDG-S2 采用数字化读数系统以消除人为视差,若出现显示异常,建议首先检查电源连接及零位校准状态。对于硬件故障或精度超差问题,请联系官方售后进行专业检修与校准,以确保仪器始终满足 ±0.25μm 的最大不准确度指标。








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