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LG-1立式光学计是一种基于比较测量法的高精度长度计量仪器。该设备通过将被测件与标准量块或标准零件进行对比,从而精确测定物体的外形尺寸偏差。其设计旨在满足高等级精度量块、一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形物体直径或板形物体厚度的精密检测需求。
作为几何量计量的基础设备,LG-1不仅适用于计量实验室的环境,也可用于生产车间对精密零件进行质量控制。凭借稳定的机械结构和清晰的光学读数系统,该仪器能够确保测量结果的可靠性与重复性,是长度计量领域不可或缺的标准检测设备。
✓ 高精度比较测量:采用经典的光学杠杆放大原理,确保微小尺寸变化的高灵敏度捕捉,满足精密计量需求。
✓ 广泛适用性:支持多种几何形状工件的测量,包括圆柱、球体、线规及板状零件,应用场景丰富。
✓ 稳定可靠的机械结构:整体结构设计严谨,具备良好的刚性及热稳定性,保证长期使用的测量一致性。
✓ 清晰直观的光学读数:配备高倍率光学投影系统,分划板刻度清晰,降低人为读数误差,提升操作效率。
✓ 恒定测量力控制:内置精密测力机构,提供稳定且柔和的接触测量力,有效保护被测表面并提高数据准确性。
1. 光学杠杆放大系统:仪器内部集成高质量的光学杠杆机构,将测杆的微小直线位移转换为光像的大角度偏转。这种非接触式的光学放大方式避免了机械传动间隙的影响,实现了高分辨率的尺寸偏差读取。
2. 精密测力装置:为了适应不同材质和精度的被测件,仪器配备了恒力弹簧或重力平衡机构,确保在测量过程中施加恒定的接触力。这一特性对于防止软金属变形及保证硬质合金测量的重复性至关重要。
3. 灵活的工作台调节:工作台支持多自由度微调,包括升降、倾斜及旋转,便于操作者快速寻找被测件的最低点或最高点(转折点),确保测量轴线与仪器光轴平行,符合阿贝原则。
4. 标准化量块比对:设计初衷即为相对测量,通过预先使用标准量块对零位,仪器可直接读出被测件相对于标准值的偏差。这种方法消除了系统误差,特别适合批量零件的快速筛选与分级。
5. 人性化观测体验:目镜筒角度经过人体工程学优化,观察舒适。分划板照明均匀,刻度线锐利,配合高总放大倍数,使得细微的刻度间隔也能被轻松辨识,减轻长时间工作的视觉疲劳。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 被测件最大长度 | 180 mm |
| 直接测量范围 | ±0.1mm |
| 分划板分度值 | 1um |
| 总放大倍数 | 1000X |
| 测量力 | (2±0.2) N |
| 示值变动性 | 0.1 μm |
| 最大不准确度 | ±0.25 μm |
| 读数方式 | 分划板读数 |
| 最大测量误差 | ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 |
| 仪器体积 | 340*160*410mm |
| 仪器重量 | 30kg |
适用领域:广泛应用于计量检定机构、机械制造企业、科研院所及高校实验室的长度计量部门。
典型用途:主要用于五等精度量块的检定、一级精度柱型规的校准;精密圆柱销、钢球、线纹尺直径的测量;薄片状零件厚度的精密检测;以及各类高精度机械零部件的尺寸公差控制。
标准配置:主机底座、立柱、光学计管(含目镜及分划板)、工作台(含微调机构)、测杆组件、照明光源系统及防尘罩。
工作原理:基于自准直光路原理。光线经物镜聚焦于反射镜上,当测杆产生微小位移时,带动反射镜偏转,导致反射光线产生角度变化,最终在目镜分划板上形成像的位移。通过读取像的位移量,即可换算出测杆的实际位移值。
操作提示:使用前需确保仪器放置在稳固无振动的平台上,并进行水平调整。测量前应用标准量块对零,并注意保持测头与被测表面的清洁,避免灰尘影响测量精度。定期校验测力机构及光学系统清晰度。
A:该仪器基于比较测量法,主要用于高等级精度量块、一级精度柱型规的检定与校准。同时也适用于圆柱形、球形、线形物体直径或板形物体厚度的精密检测,广泛应用于计量实验室及生产车间的质量控制。
A:LG-1的总放大倍数为1000X,分划板分度值为1um,直接测量范围为±0.1mm。其示值变动性为0.1 μm,最大不准确度为±0.25 μm,最大测量误差公式为±(0.5+L/100)μm(其中L为被测长度,单位mm)。
A:首先将仪器放置在稳固无振动的平台上并调整水平。测量前需使用标准量块对零位。接着利用工作台的多自由度微调功能寻找被测件的转折点,确保测量轴线与光轴平行。最后通过目镜观察分划板进行读数,读取相对于标准值的偏差。
A:需保持测头与被测表面的清洁,避免灰尘影响精度。定期校验测力机构及光学系统清晰度。仪器不使用时应盖上防尘罩。由于仪器重量为30kg,移动时需小心轻放,并确保存储环境干燥,以维持机械结构的刚性和热稳定性。
A:仪器体积为340*160*410mm,重量为30kg。它支持的最大被测件长度为180 mm。测量力控制在(2±0.2) N,采用分划板读数方式,既能保证测量灵敏度,又能通过恒定测力保护被测表面。








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