上海仪电物光 WKL-702 颗粒图像分析仪

产品概述

WKL-702颗粒图像分析仪是一种结合传统显微测量方法与现代图像技术的颗粒分析系统，适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。该仪器由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成，实现对颗粒形貌的直观观测与粒度分布的精确分析。

系统通过500万像素数字摄像机采集显微镜下的颗粒图像，并传输至电脑进行处理，具备影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大等多种图像处理功能。支持圆度、周长、面积、直径等几十种几何参数测量，可按粒径面积或形状参数以线性或非线性方式生成分布图，测试范围宽、结果准确、操作直观。

功能特点详解

1. 强大的图像处理功能
支持影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、亮度与对比度调节等几十种图像处理操作，提升颗粒图像清晰度与可分析性，便于复杂样品的精细观察。

2. 多参数几何测量
可对单个颗粒进行圆度、曲线、周长、面积、直径等多种几何参数的精确测量，满足颗粒形貌定量分析需求。

3. 灵活的统计分析与图表输出
可根据颗粒粒径的面积、形状等参数，采用线性或非线性统计方式绘制粒度分布图，提供直观的数据呈现形式。

4. 高效图像采集与传输
配备500万像素数字CCD摄像机，通过USB接口快速将显微图像传输至电脑，兼容Windows 98/XP/7/8/10操作系统。

5. 宽范围高精度测量
总放大倍数达8000倍，测量范围覆盖0.1～3000（微米），适用于从纳米级到毫米级颗粒的全面分析。

技术规格参数

应用领域

适用领域：磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各类粉末颗粒的粒度测量与形貌分析。

产品细节/结构说明

WKL-702颗粒图像分析仪由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件三部分构成。通过专用数字摄像机将显微镜下的颗粒图像拍摄并传输至计算机，利用专用软件进行图像处理与分析，实现对颗粒形貌的直观观察及粒度分布的精确测量。

该系统具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点，既可用于科研实验中的颗粒特性研究，也适用于工业生产中的质量控制与过程监测。