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阿贝比较仪（又称阿贝比长仪）是一种基于阿贝原理设计的高精度计量仪器，广泛应用于精密长度测量领域。该仪器主要用于测量二线之间的距离以及平面上两点间的精确间距，适用于200mm以下短标尺的检定、光谱图形分析及光学仪器中分划板的精密测定。
作为摄谱仪的成套附件之一，阿贝比较仪在科研与工业检测中具有重要地位。其配备高倍率读数显微镜和对线显微镜，结合精细刻尺系统，确保了测量结果的高度准确性和重复性，是实验室和计量部门不可或缺的核心设备之一。
✓ 高精度测量：读数显微镜分划值达0.001mm，实现微米级精密读数。
✓ 双显微镜配置：配备60×读数显微镜与30×对线显微镜，提升定位与观测效率。
✓ 标准化修正支持：支持按修正表进行误差补偿，保证测量精度符合(1+L/100)×μm标准。
✓ 大范围适用性：200mm测量范围满足多种短标尺及光学元件检测需求。
1. 精密长度测量功能：专为测量两平行线或平面内两点间距离设计，特别适合对200mm以内标尺进行检定，确保长度标准传递的准确性。
2. 高倍率显微成像系统：采用60倍读数显微镜与30倍对线显微镜组合，提供清晰视场与精准对准能力，显著提高操作便捷性与测量可靠性。
3. 可修正分划尺系统：仪器分划尺支持使用修正表进行校正，在未修正和已修正状态下均能保持不大于(1+L/100)×μm的系统误差水平，保障长期稳定性。
4. 结构稳定、体积适中：整机体积为620×300×400mm，重量40公斤，具备良好刚性和抗震性能，适合固定式精密测量环境。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 1、测量范围 | 200mm |
| 2、刻尺分度值 | 1mm |
| 3、读数显微镜之分划值 | 0.001mm |
| 4、读数显微镜放大倍数 | 60× |
| 5、对线显微镜放大倍数 | 30× |
| 6、对线显微镜工作距离 | 50mm |
| 7、仪器的分划尺不作修正时 | 不大于(1+L/100)×μm |
| 8、仪器的分划尺按修正表进行修正时 | 不大于(1+L/100)×μm |
| 9、仪器的重量 | 40公斤 |
| 10、仪器的体积 | 620×300×400mm |
| 注 | L——被测长度（单位：mm） |
适用领域：计量检定、光学仪器制造、光谱分析、精密机械加工、科研院所实验平台等。
阿贝比较仪依据阿贝原则构建主测量轴线，确保被测尺寸与基准尺位于同一线上，最大限度减少阿贝误差。仪器主体集成刻尺与双显微镜系统，通过手动调节实现精确定位。
对线显微镜用于快速对准目标线纹，读数显微镜则完成精细读数，二者协同工作提升整体测量效率。仪器可作为摄谱仪配套附件，参与光谱数据的空间坐标标定过程。
A：最大测量范围为200mm。
A：读数显微镜之分划值为0.001mm。
A：支持，当按修正表进行修正时，仪器精度不大于(1+L/100)×μm。
A：对线显微镜工作距离为50mm。
A：主要用于测量二线间距离和平面上两点间距离，适用于短标尺检定、分划板测量及作为摄谱仪附件使用。
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