奥林巴斯 OLYMPUS BX53M 金相显微镜

产品概述

奥林巴斯金相显微镜BX53M系列是专为工业和材料学应用设计的高性能显微成像系统。采用模块化架构，支持多种配置方式，适用于从常规检测到高级分析的广泛任务。该系列显微镜深度融合奥林巴斯Stream软件，实现从样品观察、图像获取到报告生成的无缝工作流程，显著提升工作效率与数据可靠性。

BX53M在光学性能、操作便捷性和系统扩展性方面均表现出色。其配备智能光强管理、编码硬件、超景深成像（EFI）、高动态范围（HDR）及MIX观察等先进技术，确保在复杂工业环境中获得高质量、可重复的成像结果。无论是质量控制、失效分析还是科研开发，BX53M都能提供稳定、精准的支持。

功能特点详解

1. MIX观察：让未见变为可见
MIX观察技术融合明场与定向暗场照明，利用环形LED光源选择特定方向照射样品，突出显示划痕、凹陷与隆起等细微表面特征。相比传统方法，MIX可在原本难以分辨的表面上提供独特对比度，特别适用于金属、晶圆和精密加工件的缺陷检测。

2. EFI（景深扩展成像）：创建超景深图像
通过奥林巴斯Stream软件控制Z轴移动，采集多焦面图像并叠加生成一幅全聚焦的超景深图像。EFI支持手动或电动对焦机构，并可生成高度图用于3D结构分析，极大提升了对高起伏样品的观测能力。

3. HDR（高动态范围）成像：捕捉亮暗细节
HDR技术通过图像处理优化亮度分布，有效抑制眩光，同时保留高光区与阴影区的细节信息。此功能特别适合反光强烈或表面粗糙不均的样品，如燃油喷射器、镁合金切片等，输出专业级报告图像。

4. 即时MIA：轻松拼接全景图像
无需电动载物台，仅需手动移动XY旋钮即可完成多视野图像采集。Stream软件基于图案识别自动拼接图像，生成大视野全景图，适用于硬币、滤膜残留等大面积样品的整体观察。

5. 支持多种观察方法：兼容明场、暗场、偏光、微分干涉（DIC）、荧光及红外（IR）观察，覆盖材料科学中常见的检测需求。其中IR观察配合专用物镜，可穿透硅材料进行半导体内部结构非破坏性检查。

6. 自动校准与测量功能：通过Stream软件实现自动像素校准，消除人为误差，确保测量结果一致可靠。支持距离、角度、圆、椭圆、多边形等多种基础测量，并可进行颗粒计数与尺寸分布分析。

技术规格参数

应用领域

适用领域：生物医学研究、临床诊断、制药工业、食品检测、环境监测等。

产品细节/结构说明

载物台规格：
新型150×100mm载物台，在X方向提供更大行程，支持大尺寸或多件样品同时放置。载物台板为平板式设计，设有固定孔位，便于安装样品架。扭力可调，便于高倍下精细定位。

样品适应性：
BX53MRF-S型号支持最高105mm的样品高度，最大承载总重量为6kg（样品+载物台），适用于重型工件检测。通过偏心安装6英寸晶圆托架，可在100mm行程内完整扫描整个晶圆表面。

BXFM模块化系统：
对于无法置于常规载物台上的超大或异形样品，可将核心光学部件组装为BXFM系统，通过支撑杆或安装托架固定于外部支架或其他设备上，实现灵活部署。

照明系统：
采用高强度白光LED光源，提供反射光与透射光照明。LED在整个调光范围内保持稳定色温，寿命长、效率高，优于传统卤素灯。

图像处理增强功能：
支持图像阴影校正，补偿视野边缘光照不均；结合MIA拼接技术，获得更均匀的全景图像。自动校准算法基于多点平均计算，提高定期验证的可靠性。