上海尚材数显显微维氏努氏硬度计404SXV 是一款集精密机械与光电计算机软件技术于一体的先进硬度测试设备，专用于显微维氏和努氏硬度测量。该仪器采用新型自动转塔结构，支持双压头同时安装——维氏与努氏压头可自由切换，无需手动更换，极大提升了测试效率与操作便捷性。
本设备适用于多种材料的微观硬度分析，包括金属微小零件、薄板、金属箔、优质电线、薄硬化层、电镀层，以及玻璃、珠宝、陶瓷等非金属材料。其高精度光学系统与自动化加载控制，确保测试结果准确可靠，特别适合对感应硬化或渗碳材料进行内部硬度梯度分析。
✓ 自动转塔双压头系统：集成维氏与努氏压头，通过自动转塔切换，免去频繁更换压头的麻烦，提升测试效率。
✓ 高精度光学测量系统：配备10×观察物镜、20×与40×测量物镜，结合10×测微目镜，实现最高400×放大倍数，分辨率可达0.015μm。
✓ 多级试验力配置：提供从HV0.01到HV1共8级维氏标尺（对应10–1000gf），并支持选配2000gf特制砝码，满足多样化的测试需求。
✓ 全自动加载控制：具备自动加荷、保荷、卸荷功能，保荷时间可在0–95秒间以5秒为增量设定，操作精准稳定。
1. 双模式硬度测试：支持维氏（HV）与努氏（HK）两种测试模式，用户可根据材料特性选择合适压头。维氏使用方形底面棱锥压头，需测量两条对角线；努氏使用菱形底面棱锥压头，仅需测量一条长对角线，更适合脆性或薄层材料。
2. 数字化数据处理：通过手动测量压痕对角线长度，并将数值输入主机，系统自动计算并显示对应的硬度值，减少人为误差，提高测试一致性。
3. 精密X-Y试台设计：试台尺寸为100×100 mm，行程达25×25 mm，分辨率为0.01 mm，便于精确定位被测区域，适用于微小样品的多点测试。
4. 智能节能模式：设备在约10分钟无操作后自动进入待机状态，有效降低能耗，延长光源寿命。
5. 多级可调光源：采用12V/20W卤素光源，亮度多级可调，适应不同材料表面反光特性，确保成像清晰。
| 维氏标尺 | HV0.01，HV0.025，HV0.05，HV0.1，HV0.2，HV0.3，HV0.5，HV1 |
| 努氏标尺 | HK0.01, HK0.025，HK0.05，HK0.1，HK0.2，HK0.3，HK0.5，HK1 |
| 试验力单位 | gf，mN |
| 试验力 (gf) | 10 25 50 100 200 300 500 1000（1K） |
| 试验力 (mN) | 98 245 490 980 1960 2940 4900 9800 |
| 备注 | 可选配2k特制砝码（按合同提供），进行2000gf（19610mN）试验力的维氏硬度测试 |
| 试验力选择 | 旋转试验力变换手轮，选定的试验力显示在屏幕上 |
| 加载控制 | 自动（加荷/保荷/卸荷） |
| 保荷时间 | 0—95秒（5秒为增量） |
| 测试模式 | HV/HK |
| 硬度值处理 | 手动测量压痕，自动输入测量读数；自动计算并显示硬度值 |
| 语言 | 英文 |
| 物镜 | 10×（观察） 20×（测量） 40×（测量） |
| 测微目镜 | 10× |
| 总放大倍数 | 100×（观察） 200×（测量） 400×（测量） |
| 最大测量范围 | 400μm（200×） 200μm（400×） |
| 分辨率 | 0.03μm（200×） 0.015μm（400×） |
| X-Y试台尺寸 | 100×100 mm |
| X-Y试台行程 | 25×25 mm |
| X-Y试台分辨率 | 0.01 mm |
| 试件最大高度 | 90 mm |
| 试件最大深度 | 120 mm（从中心算起） |
| 节能模式 | 约10分钟不用后自动进入待机模式 |
| 光源 | 12V/20W |
| 光源亮度 | 多级可调 |
| 电源 | 220V 50/60Hz |
| 主机尺寸 | 495×305×550 mm |
| 主机重量 | 约33 kg |
适用领域：金属材料研究、微电子封装检测、表面处理工艺评估、薄层与镀层分析、地质矿物鉴定、珠宝玉石硬度测试、陶瓷与玻璃材料性能评价等。
保持仪器清洁干燥，避免强光直射和剧烈震动；定期检查压头是否松动或磨损；使用完毕后关闭电源，盖上防尘罩；建议每6个月进行一次校准以保证测试精度；禁止用硬物触碰光学部件，清洁时应使用专用镜头纸轻轻擦拭。
A：支持维氏标尺HV0.01至HV1共8级，以及努氏标尺HK0.01至HK1共8级。
A：最大测量放大倍数为400×，由40×物镜与10×测微目镜组合实现。
A：可以，本硬度计可选配2k特制砝码（按合同提供），实现2000gf（19610mN）试验力的维氏硬度测试。
A：保荷时间可调，范围为0—95秒，以5秒为增量进行设置。
A：操作界面语言为英文。
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