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图像分光测色仪是一款专为复杂图像颜色测量设计的高精度仪器，具备强大的性能配置与先进的图像数据处理技术。该设备适用于对微小区域进行精准测色，在岩彩漆、纺织纱线等领域的颜色测量与配色中表现出卓越能力。
其核心优势在于可测量低至0.3mm²的采样区域，并在重复性测试中实现ΔE*ab最大值0.1以内的高稳定性表现。支持SCI/SCE同步测量，兼容多种国际标准，确保与普通分光测色仪间的数据传递一致性，满足高端工业与科研场景需求。
✓ 高精度微区测量：最小可测面积达0.3mm²，方寸之间呈现极致细节。
✓ 卓越重复性表现：XLAV色度值ΔE*ab 0.03以内，最大值不超过0.1（0.3mm²区域连续测量30次）。
✓ 双模式同步测量：支持SCI（含镜面反射）和SCE（不含镜面反射）同时获取结果。
✓ 多标准光源支持：内置24种观察光源，覆盖A、C、D系列及F类等多种常用光源类型。
✓ 广泛颜色指标输出：提供30+种色差公式与颜色指数，包括WI、YI、同色异谱指数、牢度等级等。
✓ 国际标准兼容：符合CIE No.15、ISO7724/1、ASTM E1164等多项国际与行业标准。
1. 自动校准功能
仪器配备自动校准机制，提升操作效率并保障测量数据的准确性与一致性，减少人为误差影响。
2. 专业级图像颜色分析能力
针对复杂图像结构优化算法，能够精确识别并分析微小色彩差异，适用于纹理密集或颜色多变样品。
3. 支持多种颜色空间与色差计算
支持L*a*b、L*C*h、XYZ等多种颜色空间转换，并集成ΔE*ab、ΔE*00、ΔE*cmc等多种色差公式，满足不同应用场景需求。
4. 全光谱LED照明系统
采用全光谱LED作为照明光源，确保光谱连续性和稳定性，提高测色真实度与再现性。
5. 可定制化测量口径
标准测量口径为30×30mm，同时支持根据用户需求定制任意尺寸，增强应用灵活性。
| 产品型号 | 图像分光测色仪 |
| 照明/测量条件 | 反射：d/8（漫射照明，8° 方向接收） |
| SCI（包含镜面反射光）/ SCE（不包含镜面反射光）同时测量。符合标准：CIE No.15、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724/1、DIN5033 Teil7、JIS Z8722 条件C、ASTM E1164、ASTM-D1003-07 | |
| 传感器 | 硅光二极管阵列 |
| 分光方式 | 凹面光栅 |
| 积分球直径 | 152mm |
| 测量波长范围 | 400nm-700nm |
| 测量波长间隔 | 10nm |
| 半波宽 | 5nm |
| 反射率测量范围 | 0-200%，分辨率0.01% |
| 照明光源 | 全光谱LED |
| 测量口径 | 30*30mm，可定制任意尺寸 |
| 最小测量面积 | 0.3mm² |
| 重复性 | XLAV 色度值：标准偏差 ΔE*ab0.03以内，最大值 ΔE*ab 0.1以内（0.3mm²采样区域，仪器校正后，以10秒间隔测量白色校正板30次） |
| 台间差 | XLAV ΔE*ab 0.4（基于23°C时，测量BCRA Series系列12色板平均值） |
| 标准观察者 | 2°标准观察者和10°标准观察者 |
| 观察光源 | A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,CWF,U30,DLF,NBF,TL83,TL84 |
| 颜色空间 | L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ |
| 色度指标 | WI(ASTM E313-00,ASTM E313-73，CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube,Berger Stensby)，YI(ASTM D1925，ASTM E313-00,ASTM E313-73),Tint(ASTM E313-00),同色异谱指数Milm，沾色牢度，变色牢度，ISO亮度，R457，A密度，T密度，E密度，M密度，遮盖力，力份，强度 |
| 色差公式 | ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00,ΔEab(Hunter),555色调分类 |
| 操作温湿度 | 5～40°C, 相对湿度80%(35°C 时)以下无凝露 |
| 存储温湿度 | -20～45°C, 相对湿度80%(35°C 时)以下无凝露 |
| 附件 | 电源适配器、数据线、白板 |
| 接口 | USB |
适用领域：岩彩漆分析、纺织纱线颜色检测、印刷品质量控制、涂料研发、塑料着色、食品外观评估、电子显示面板色彩校验等需要高精度图像颜色测量的行业。
配置清单：
电源适配器
数据线
白板
工作原理：
采用d/8几何光学结构，通过全光谱LED光源照射样品表面，由硅光二极管阵列传感器采集反射光信号，经凹面光栅分光后获取400nm-700nm波段内的光谱数据，结合标准观察者函数与光源条件，计算出各类颜色参数与色差值。
支持SCI/SCE双模式同步测量，确保对镜面反射成分的灵活控制，满足不同材质表面的测色需求。
A：最小测量面积为0.3mm²。
A：在0.3mm²采样区域下，以10秒间隔测量白色校正板30次，XLAV色度值ΔE*ab标准偏差在0.03以内，最大值不超过0.1。
A：支持SCI（包含镜面反射光）和SCE（不包含镜面反射光）同时测量。
A：符合CIE No.15、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724/1、DIN5033 Teil7、JIS Z8722 条件C、ASTM E1164、ASTM-D1003-07等标准。
A：支持L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ等颜色空间；色差公式包括ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc, ΔE*94, ΔE*00, ΔEab(Hunter), 555色调分类等。
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