奥林巴斯 OLYMPUS OLS4500 原子力激光共聚焦显微镜

产品概述

LEXT OLS4500是一款集成了激光显微镜和探针扫描显微镜（SPM）功能于一体的新型纳米检测显微镜，能够实现从50倍到100万倍的超大范围观察与测量。该设备融合了光学显微镜、激光显微镜与SPM三种技术于一体，构成一体化设计，无需重新放置样品即可在不同观测模式间自由切换，显著提升工作效率。

LEXT OLS4500充分发挥奥林巴斯先进的光学技术优势，配备白色LED光源与高动态范围（HDR）功能，可呈现色彩真实、细节丰富的高分辨率彩色影像。同时搭载短波长405 nm激光光源和高N.A.专用物镜，具备优异的平面分辨率，能够清晰呈现光学显微镜难以观测的微小结构。电动物镜转换器集成4种物镜及小型SPM测头，支持从低倍至高倍的无缝倍率切换与多模式观察，确保目标始终锁定，不丢失观察对象。

功能特点详解

1. 多模式光学观察快速定位目标
LEXT OLS4500配备白色LED光源，支持高分辨率彩色成像，并提供多种观察方式：明视场（BF）用于常规颜色还原观察；微分干涉（DIC）增强微小凹凸的立体感；简易偏振光观察揭示材料偏光特性；HDR功能通过多曝光合成优化亮暗对比，突出纹理细节。这些方法协同工作，帮助用户快速准确地找到待测区域。

2. 激光显微镜提升微结构分辨能力
采用405 nm短波长激光与高数值孔径（N.A.）专用物镜，实现0.12μm的平面分辨率，能清晰显示传统光学显微镜无法分辨的细微结构。在激光微分干涉（DIC）模式下，还可实时观察纳米级微小高低差，适用于硬盘、晶圆等精密表面检测。

3. SPM无缝对接实现纳米级精准测量
电动物镜转换器上集成小型SPM单元，物镜与微悬臂前端同轴共焦配置，切换至SPM模式时不会丢失目标点。配合向导式操作界面，即使是经验较少的操作者也能轻松完成安装微悬臂、设定扫描范围等步骤，仅需一次扫描即可获取高质量SPM图像，降低探针损耗并提高效率。

4. 强大的拼接与放大功能扩展观测视野
设备支持最多拼接625幅图像，生成高分辨率的大范围3D视图，便于在广域中精确定位目标区域。同时可通过鼠标框选局部区域进行自由放大扫描，灵活设置SPM测量范围，大幅提升复杂样品的分析效率。

5. 全面的表面形貌与粗糙度分析能力
支持截面形状分析（如曲率、夹角）、粗糙度分析、形态分析（面积、体积、高度等）、粒子分析（选配）以及评价高度测量。提供符合ISO标准的多种参数输出，包括R系列、P系列、W系列及3D参数（Sq, Sa, Sk等），满足工业研发与质量控制需求。

6. 多种SPM测量模式适应多样化样品
内置6种SPM测量模式：接触模式适用于硬质薄膜表面形貌测量；动态模式适合高分子、粘性样品；相位模式反映表面物性差异；电流模式检测导电性分布并支持I/V测量；KFM（表面电位模式）分析表面电位分布；MFM（磁力模式）获取磁记录介质的磁力信息，广泛应用于半导体、磁存储等领域。

技术规格参数

应用领域/适用场景

适用领域：半导体制造、硬盘与磁记录材料检测、金属加工表面分析、高分子材料研究、生物医学材料表征、精密模具检测、电子元器件质量控制、科研实验室纳米尺度测量等。

产品细节/结构说明

光学显微镜原理与特长：
光学显微镜从样品上方照射可见光（波长约400 nm到800 nm），利用其反射光成像，可将样品放大数十倍至一千倍左右进行观察。其特长在于可真实还原彩色样品，并可通过切换观察方法强调表面凹凸或物质偏光性。

支持的观察方法包括：
• 明视场观察：基本的观察方法，通过样品的反射光成像进行观察
• 微分干涉观察：给样品表面的微小凹凸添加明暗对比，形成立体可视影像
• 简易偏振光观察：照射偏振光，使样品的偏光性变为可视影像

激光显微镜优势：
采用405 nm短波长激光和更高数值孔径的物镜，达到0.12μm平面分辨率，可对亚微米至数百微米范围内的高度差进行分辨。结合高精度光栅读取与亮度检测技术，保证“正确性”与“重复性”两大关键指标。

SPM测量模式说明：
接触模式：控制微悬臂与样品间排斥力恒定，静态扫描呈现样品高度，可用于弯曲测量。
动态模式：使微悬臂在共振频率附近振动，控制Z方向距离保持振幅恒定，适用于柔软或粘性样品。
相位模式：检测微悬臂振动的相位延迟，呈现表面物性差异。
电流模式：施加偏置电压，检测微悬臂与样品间的电流，输出导电性分布图像，并支持I/V测量。
表面电位模式（KFM）：使用导电性微悬臂施加交流电压，检测静电作用，呈现表面电位分布。
磁力模式（MFM）：使用磁化微悬臂，在相位模式下检测磁力信息，用于磁记录介质分析。